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参考点 轻敲模式：样品逼近后，反馈回路工作时（恒振幅模式），探针悬臂的振幅。探针悬臂受到这个作用力，振幅越小，用这个量表征探针与样品之间的作用力。参考点越小，探针的减小量越大，则探针对样品施加的作用力也越大。 返回 * 参考点 非接触模式：1、探针未抬起时，参考与轻敲模式。2、抬起一定高度时，分两步：一、设定探针的初始抬起高度；二、探针与样品保持恒定的距离。 返回 * 力-距离曲线 力-距离曲线视频 * 力-距离曲线 * 从力-距离曲线计算力 参考点=1.0V（点A） B：探针起伏=0 扫描器Z伸缩系数=10nm/V 探针的力常数k=0.2N/m 探针的形变量为：Δx=Sz*(VzA-VzB)=124nm 则在参考点时的探针受力为：F=K*Δx=24.8nN * 力-距离曲线 SFM除了形貌测量之外，还能测量力对探针-样品间距离的关系曲线Zt（Zs）。它几乎包含了所有关于样品和针尖间相互作用的必要信息。当微悬臂固定端被垂直接近，然后离开样品表面时，微悬臂和样品间产生了相对移动。在这个过程中微悬臂自由端的探针也在接近、甚至压入样品表面，然后脱离，此时原子力显微镜（AFM）测量并记录了探针所感受的力，从而得到力曲线。 * 力-距离曲线 Zs是样品的移动，Zt是微悬臂的移动。这两个移动近似于垂直于样品表面。用悬臂弹性系数c乘以Zt，可以得到力F=c·Zt。如果忽略样品和针尖弹性变形，可以通过s=Zt-Zs给出针尖和样品间相互作用距离s。这样能从Zt（Zs）曲线决定出力-距离关系F（s）。 * 力-距离曲线 这个技术可以用来测量探针尖和样品表面间的排斥力或长程吸引力，揭示定域的化学和机械性质，像粘附力和弹力，甚至吸附分子层的厚度。如果将探针用特定分子或基团修饰，利用力曲线分析技术就能够给出特异结合分子间的力或键的强度，其中也包括特定分子间的胶体力以及疏水力、长程引力等。 * 振幅-距离曲线 * 力和力梯度检测的基本原理 力检测：通过检测在该力作用下微悬臂的弹性形变量dz，就可根据微悬臂的弹性系数k和等式（Hooke定律）：F=k*dz，直接求出作用力F。 * 力和力梯度检测的基本原理 力梯度检测:对于长程力，通过振荡悬臂并测量共振频率的变化可获得更好的灵敏度。这种AC检测方法对应的就是力梯度。如果有空间变化力存在（也就是力梯度存在），悬臂的有效弹性系数就会发生变化，从而引起共振频率的变化。 f∝(k-f’)1/2 * 反馈的实现-PI控制 P：比例增益 Proportion Gain 比例增益P是输出和误差的比值。 比例增益P是输出和误差的比值。 如果比例增益太大，会引起系统震荡，变得不稳定。 I：积分增益 Integral Gain 积分增益I是误差和时间的积分。 积分随时间连续响应直到误差为零。 如果积分增益太大，会引起系统震荡，变得不稳定。 反馈中，输入e(t)和输出u(t)的关系为： 返回 * 比例增益 反馈电路每隔一段时间，计算实际的探针-样品作用力与设置的参考点之间的误差。比例增益控制对这个误差进行补偿的快慢程度。 只使用比例增益不能完全使反馈电路稳定工作于用户所设定的参考点上，系统总会存在一定的误差，所以系统只能接近而不能达到所设定的参考点。 返回 * 积分增益 积分增益用于补偿积累的系统误差。 在SPM系统中，若只单独使用比例增益，系统总会存在误差。所以系统需要知道，在一段时间间隔内，探针-样品之间的作用与参考点之间的总误差量是增加还是减少的，积分增益的作用就是补偿这一段时间内的总累积的系统误差。 返回 * 参考增益 由于每行扫描得到的形貌数据域上一行总是连续的，所以SPM系统引入参考增益这一参数，通过记录上一行得到的数据，来预测当前扫描行的形貌数据。 * 反馈控制的过程 参考增益：其目的是利用每一行的数据区预测相邻的下一行。 积分增益和平均误差：利用积分增益校正系统的平均误差（积分误差）。若扫描参数不改变，则系统通过积分增益维持一定的平均误差。若参数改变，则平均误差值也发生改变 * 反馈控制的过程 比例增益和实时误差：使用比例增益可以完成实时误差的校正。SPM系统按比例的校正当前反馈量与参考点之间的差值。 * Thank you * 扫描探针显微镜 (SPM)读书报告 报告人：李志斌 2012/3/26 * 阅读书目 白春礼编著，扫描隧道显微术及其应用，上海科学技术出版社，1992.10 本源纳米仪器编著，CSPM4000用户手册 本源纳米仪器，扫描探针显微镜培训教程 本源纳米仪器编著，原子力显微镜科普知识(修正版) /~hsmithso/class/bsc_656/websites/spm.ht