具错误侦测能力之晶片网路资料封包预取装置-朝阳科技大学资讯学院.PDF

具錯誤偵測能力之晶片網路具錯誤偵測能力之晶片網路資料資料 封包預取裝置封包預取裝置 具錯誤偵測能力之晶片網路具錯誤偵測能力之晶片網路資料資料 封包預取裝置封包預取裝置 蔡文宗 呂柏陞 施又郡 朝陽科技大學資訊與通訊系 朝陽科技大學資訊與通訊系 朝陽科技大學資訊與通訊系 助理教授 學生 學生 azongtsai@.tw jay604132002@ asd8730873@.tw 摘要摘要 摘要摘要 1.前言前言 前言前言 在可預見的未來，傳統系統晶片 隨著積體電路 (IC)製程的快速演進，在相 System-on-Chip, SoC)內所採用的匯流排 同的單位晶圓面積下，電晶體密度急遽地增 (On-Chip Bus)架構，無論在功率消耗、性能要 加。相較於以往的產品，系統晶片 求、以及擴充彈性上，都即將難以滿足多核心 (System-on-Chip)能夠整合更多樣的元件與更 (Many-Core) 系統晶片內部元件間，因大量通訊 複雜的設計，以提供更豐富的功能與更強大的 所產生的複雜通訊需求。近年來，一種基於封 效能。面對此一高度集成之設計趨勢，晶片內 包 交 換 技 術 而 實 現 的 晶 片 網 路 元件間的連接架構也同時面臨著在軟硬體設 (Network-on-Chip, NoC)傳輸架構逐漸地受到 計上更嚴苛的挑戰。 各學術界與產業界的高度重視，然而其關鍵技 因積體電路製程的持續微縮，如深次微米 術之一的容錯 (Fault Tolerance)機制卻仍未瑧成 (Deep Sub-Micron)技術的發展，在不久的未 熟。本文提出一具錯誤偵測能力之資料封包預 來，晶片內部的通訊系統，正如同電腦或通訊 取裝置，並用以提升晶片網路的傳輸效能。 網路一般，無可避免地會遭受到各種錯誤的干 關鍵詞：系統晶片；多核心；晶片網路；循環關鍵詞 擾。通道傳輸功能的喪失，原因可能為因為電 關鍵詞關鍵詞 子遷移(Electronic Migration)造成金屬連線的 冗餘檢查碼；封包預取。 永久斷裂，或是軟性錯誤 (Soft Error)對於記憶 元件所產生的暫時性影響。其錯誤發生的時間 Abstract 可能是在系統開機後以靜態的方式呈現，也可 能是在系統運作時動態地發生。如果通訊機制 In the coming future, power 沒有支援相對應的容錯機制，則任何錯誤的發 consumption, performance requirement, and extension flexibility of a conventional 生，對於整個系統而言，即可能地會導致一連 串運作上的嚴重性失效 (Fatal Failure) 。針對傳 on-chip bus-based System-on-Chip, cannot satisfy diverse communication requirements 統容錯機制在效能上的不足之處，本文提出一 in the next-generat