长焦距光学系统杂光系数测量的新方法及其理论分析.pdf

第16卷　第11期 光　 学 　学 　报 . 16, . 11 V o l N o 　1996年11月 A CTA O PT ICA S IN ICA N ovem ber , 1996 长焦距光学系统杂光系数测量的新方法 及其理论分析 高万荣　薛鸣球　苗兴华　查冠华　 沙维敏 潘来俊　张兴珍　梁蕴绵　秦　斌 ( 中国科学院西安光学精密机械研究所空间光学研究室, 西安 710068) 摘　要　在分析现有杂光系数测量的基础上, 提出了一种新的长焦距光学系统杂光系数测量的方 法, 并对这种方法进行了理论分析。 关键词　长焦距光学系统, 　杂光系数, 　杂光源。 1　引　　言 成像光学系统的像面通常不仅接收成像光线, 也接收到了非成像光线, 而这非成像光线 则降低了像面的对比度。传统的评价光学系统抑制杂散光性能的方法之一是黑斑法。在黑斑 法测量中, 目标物是一个置于具有均匀辐亮度扩展场上的完善圆形小黑斑。杂光系数(V G I) 定义为像面中黑斑中心的辐照度与黑斑移去时同一点的辐照度之比。均匀扩展亮场的实现, 通常是采用积分球的方法。对于摄影系统来说, 当焦距短时, 积分球实现起来比较容易, 而 当焦距长时, 则按照模拟光源应距被测镜头10倍焦距远以外的要求, 制作大口径积分球非常 困难。本文在分析现有杂光系数测量装置的特点及其相应适用范围的基础上, 提出了一种长 焦距摄影系统杂光系数测量的方法, 并提出了分析杂光源的一些观点。同时, 结合目前正在 设计的一台杂光系数测试仪进行了讨论。 2　现有的杂光系数测量装置的分析 [ 1 ] 测量光学系统杂光系数的典型装置如图1所示 。在积分球内的适当位置上装上几个灯, 以产生张2球面度的扩展亮场。黑斑则是装在积分球内壁上的一个吸收腔, 它可以用具有积 分球其它部分一样反射性质的材料更换。被测镜头从积分球上正对着黑斑的出口伸入, 镜头 的前端至少应伸到积分球内表面的孔口边缘。黑斑像的辐照度用一个适当的光电探测器进行 测量, 探测器的前端是一个小孔。 上述条件下探测器测得的信号与黑斑被具有积分球其它部分一样反射性质的材料代替后 探测器所测得的信号之比, 便给出杂光系数。如果不能用具有积分球其它部分一样反射性质 　　收稿日期: 1995年6月11 日; 收到修改稿日期: 1996年1月2 日 11期 高万荣等: 　　长焦距光学系统杂光系数测量的新方法及其理论分析 1627 　 的材料代替黑斑, 则第二次测量时, 可将小孔和探 测器移到黑斑像的临近像点。 测量装置的具体结构取决于被测镜头的性能参 数, 而被测镜头的性能参数则由使用条件而定。对 摄影光学系统来说, 物距常常很大, 则来自整个半 无限空间的辐射照到镜头上, 扩展源为了模拟这种 使用条件, 也必需对镜头张2球面度。显然, 事实 上不可能实现位于无限远的这种光源和黑体, 通常 以10倍焦距外的模拟黑体和均匀扩展亮场来代替。 均匀扩展亮场则用积分球来实现。因此, 图1所示的 　 F ig. 1