鬼像分析实例.pdf

petzval 系统鬼像分析实例 本案例引入一OSLO 设计优化好后的petzval 系统，现在针对这一系统进行鬼像分析，主要阐 述如何应用FRED 这套光学设计软件中的强大的鬼像分析功能来进行鬼像分析。如图1，为导入 光学系统界面。 如图2，为导入petzval 光学系统界面。 如图3，点击create, 如图4 ，导入光学系统后的结构图。 接下来我们要加入光源，在这里我们设定三个光源：0 度，6 度，-6 度（在设定时候要转换成弧度 表示法）。现在我们加入0 度光源， 点选所建立的光源，然后进行复制和粘贴操作，如图所示， 对paraxial source2 重新定义，使其进入系统中的角度设定为6 度（弧度为6*3.14/180=0.1047 ）， 如图所示 对paraxial soure1 重新定义，使其进入系统中的角度设定为-6 度（弧度为-6*3.14/180=-0.1047 ）， 如图所示 光源定义后进行光线追迹，点击trace and render, 光线追迹后 如果此系统各镜片上镀有膜层，那么我们还需将膜层考虑进去，下面就针对在镜片上镀有95%的 透射，5%的反射膜层进行考虑。下面我们建立并加入这样的膜层， 下面我们将此膜系赋予给镜片中的每个面，直接通过鼠标拖拽就可以完成。其它面类似！ 下面对光线进行控制设定，我们让追迹的所有光线显示出来，将allow all 赋予每个镜面。 重新进行光线追迹。因为我们要进行杂散光分析，所以这里我们需要把光线追迹的结果记录起来。 因此我们作一下设置， 光线追迹后的结果图 下面我们可以看一下光线路径报表， 大家可以双击标题栏，这样它就会按照能量的高低进行排列（在其它标题栏同样适用） 大家可以看到Spec Refl count 栏中看到许多光线是经过2 次反射，或者是4 次反射，这表示在接 收器上接收到的光线有许多是经过2 次或者4 次反射最后进入接收面上，而此类光线就是为形成 鬼像的一部分。 要看在接收面上的照度分布或者看鬼像，我们还要进行分析面的设置，如图 将此分析面赋予接收面上，直接拖拽鼠标完成。 上述步骤完成后，重复记录追迹过程，如图 追迹完后我们看照度分布图， 我们可以看到，在成像面上，看到许多亮点，而此前系统是通过OSLO 优化过的，这说明有杂散 光的存在。下面我们就有必要进行杂散光分析，特别是我们刚才在光学路径中发现有许多形成鬼像 的光线。 我们来具体看一下形成这些鬼像的能量，然后我们针对某一路径的光线进行分析。 在上面这幅图中我们看到在系统中发生两次反射后进入接收面上的光线，并且详细的标出光线是由 哪两个面形成的。这样我们就可以有针对性地进行鬼像分析。 我们就能量较高的由第6 个面和第5 个面所形成的鬼像光线进行分析。 选择raytrace 中的user-defined ray path,然后选择defaultsequential 并选择copy，然后更改名称 为Ghost6_5. 下面对光路进行设定， 上面的光路设定表示，1-2-3-4-5-6 （反射）-5 （反射）-6-7， 点选Raytrace 下Advanced raytrace ，设定和结果如图所示。 这部分光线形成的照度分布如下图所示 注释：上述部分列举了的一个例子，借助FRED 强大的分析功能对鬼像进行分析。希望能给对FRED 感兴趣的爱好者学习有所帮助。（此外，有兴趣的可以将镜筒加入，并对镜筒中的散射模型进行定 义，可以看到散射对成像质量的影响，由于篇幅较大，这里只对鬼像部分杂散光进行分析）