第九章 原子发射光谱分析法.ppt

第九章 原子发射光谱分析法 一、概述 原子发射光谱分析法的特点: 二、原子发射光谱的产生 原子的共振线与离子的电离线 二、原子发射光谱分析仪器 （一） 仪器类型与流程 （二）光源 光源的作用：为试样的气化原子化和激发提供能源； 直流电弧 交流电弧 高压电火花 电感耦合高频等离子体电源 发射光谱的产生 2.低压交流电弧 工作原理 特点： ３.高压火花 高压火花的特点： 4.电感耦合高频等离子体光源 电感耦合高频等离子体是目前原子发射光谱法中使用的新型光源，是指高频电能通过电感耦合到离子体所得到的外观上类似火焰的高频放电光源。这种光源工作温度高，又是在惰性气体条件下，几乎任何元素都不能再呈化合物状态存在，原子化条件良好，谱线强度大，背景小；同时光源稳定，分析结果再现性好，准确度高。 火焰光度计简介 （三）分光系统：光谱仪(摄谱仪) 摄谱仪光路图 摄谱仪的观察装置 （四）检测系统 发射光谱分析采用摄谱法时，需要一些检测仪器，如光谱投影仪、测微光度计等。 光谱投影仪又称为光谱放大仪或映谱仪。在观察谱线进行发射光谱定性分析和半定量分析时，需用此设备将摄得的谱片进行放大、投影在屏上以便检测。 测微光度计又称为黑度计。在进行发射光谱定量分析时，用测微光度计测量感光板上所记录的谱线的黑度。照射到感光板上的光线越强，时间越长，则呈现在感光板上的谱线会越黑。常用黑度S表示谱线在感光板上的变黑程度。摄谱法的定量分析就是根据测量谱线的黑度，然后计算待测元素的含量 三、原子发射光谱法的应用 （一）光谱的定性分析 1. 标准样品光谱比较法；2. 元素光谱图比较法 （三）光谱定量分析 在实际工作中通常用内标法和三标准试样法。 内标法是通过测量分析线的相对强度来进行定量分析的方法。具体做法是：在待测元素谱线中选一谱线作为分析线；另外从基体元素（或定量加入的其它元素）的谱线中选一与分析线均称的谱线，称为内标线或比较线，这两条谱线组成分析线对。分析线与内标线的绝对强度的比值称为分析线对的相对强度。然后根据分析线对的相对强度与待测元素含量之间的关系进行定量分析。这样可以使谱线强度由于光源波动而引起的变化得到补偿。 三标准试样法是将三个或三个以上标准试样和分析试样在相同条件下于同一块感光板上摄取光谱。感光板经暗室处理后，测得标准试样分析线对的黑度差△S，并将△S与相对应的待测元素含量的对数 logC 绘制工作曲线，然后根据试样分析线对的黑度差△S，从工作曲线上查出待测元素的含量。由于将标样与试样同时摄谱，可以消除实验条件变化引入的误差，因而三标准试样法准确度高。 (四）光谱半定量分析 光谱半定量分析的依据是谱线的黑度及数目与元素含量的相关性，元素的含量越高，则谱线越黑。常用的半定量分析方式是摄谱法中的谱线黑度比较法。将样品与已知不同含量的标准样品在相同实验条件下，同时在一张谱片上摄谱，于映谱仪上确定样品中被测元素的灵敏线，然后用目视法直接比较被测样品与标准样品系列的同一灵敏线的黑度，如果与某一标准试样相同，则该待测元素的含量与这一标准试样中该元素的含量近似相等。 光谱半定量分析方法可以简便、快速地估计样品中组分的大致含量，例如对矿石品位的估计，钢材、合金、化工产品的分类，以及在化学法进行定量分析之前，提供试样元素的大致含量和有关干扰情况等。在实际工作中经常遇到需要对许多不同种类的试样迅速作出有一定数量级的含量判断，要求分析速度要快，但准确度可以稍差一些，这时应用光谱半定量分析法是适宜的。 小 结 原子发射光谱法的基本理论：共振线、光谱的产生 原子发射光谱仪：光源、分光系统、检测系统 仪器类型 原了发射光谱的应用：定性分析、半定量分析、定量分析 * * 第九章 原子发射光谱分析简介 原子发射光谱分析法：元素在受到热或电激发时，由基态跃迁到激发态，返回到基态时，发射出特征光谱，依据特征光谱进行定性、定量的分析方法。 1859年，基尔霍夫(Kirchhoff G R)、本生(Bunsen R W) 研制第一台用于光谱分析的分光镜，实现了光谱检验； 1930年以后，建立了光谱定量分析方法； 原子光谱 ＜＞ 原子结构 ＜＞ 原子结构理论＜＞ 新元素 在原子吸收光谱分析法建立后，其在分析化学中的作用下降，新光源(ICP)、新仪器的出现，作用加强。 (1)可多元素同时检测 各元素同时发射各自的特征光谱； (2)分析速度快 试样不需处理，同时对几十种元素进行定量分析(光电直读仪)； (3)选择性高 各元素具有不同的特征光谱； (4)检出限较低 10～0.1?g?g-1(一般光源)；ng?g-1(ICP） (5)