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测试铁氟龙管对温度衰减的系数引言必要性测试出铁氟龙管对温度衰减的系数，可以准确的获取封装的碳纤维传感器对温度的测量。简要方案试验目的：获取铁氟龙管对温度衰减的系数材料仪器：卷尺，笔，剪刀，水盆，热水壶，光纤，熔接机，DiTeSt-SAT202试验工况：实验仪器均能能正常工作试验方法：将两段长为100cm的铁氟龙管，分别按下图1所示的位置套在长为1130cm的裸光纤上，并将图1中的浸水部分绕圈放入图2的水盆中（水盆的盆底直径为58cm），在盆底将光纤绕圈的过程中尽量避免光纤的弯折过小，影响实验的测量精度。将光纤的两端分别接入到实验仪器DiTeSt-STA202通道1的to和from口，将烧沸的热水倒入图2的水盆中，然后开始实验图1 光纤套管示意图图2 光纤测试示意图预期结果：通过测试获取铁氟龙管对温度衰减的系数内容要点4.1 实验目的获取铁氟龙管对温度衰减的系数4.2 实验原理将铁氟龙管套住光纤封装进复合材料里，套有铁氟龙管的光纤对温度进行测试时，可能会因为铁氟龙管对温度的影响，从而阻碍光纤获取正常的温度，所以有必要获取铁氟龙管对温度衰减的系数，使封装的碳纤维传感器测出准确的温度。实验原理：将两段铁氟龙管套在裸光纤的不同位置上，通过实验仪器测出裸光纤的温度曲线，从而得出铁氟龙管对温度的衰减系数。4.3 实验准备测试实验仪器DiTeSt-SAT202能否正常工作量出所测光纤的长度（单模光纤）标定光纤的熔接位置标定铁氟龙管的放置位置4.4 实验工况4.5 实验方法将光纤的两端分别接到DiTeSt-SAT202的通道1的To和From口中；将上图1中的浸水部分绕圈放入上图2的水盆中，尽量避免光纤弯折过小；将烧沸的热水倒入水盆里，并记录此时的水温T11，并将其标记为第一次实验1，此时可以在实验仪器DiTeSt-SAT202上看到测试所需时间，在实验1的过程中分别在实验中再测试出一组水温T12，结束后再测试出一组水温T13，并将其记录在下表1中（如果三组温度相差不是很大，可默认此次的测试实验温度恒定）第一组实验完毕后，待水温降到整数时，记录此次水温T21，开始第二次实验，如实验一一样，也分别测出此次实验中的另外两个温度T22，T23；（如果三组温度相差不是很大，同样可默认此次的测试实验温度恒定）反复进行多次实验，待到水温接近室温，停止实验；将多次实验数据依次进行整理，分析并得出结论；数据打包导出；表1 实验数据表实验名称水温前水温中水温后实验耗时实验数据名称存储位置实验180T12T13实验270T22T23实验360T32T33实验450T42T43.......................4.6 预期结果经过实验可得出铁氟龙管对温度的衰减系数4.7 可能的困难水温变化过快，可实验次数少