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正电子湮没技术在高分子薄膜研究中的应用孙旭东曾敏峰鲍高强郑厚天刘维民齐陈泽介绍了正电子湮没技术在高分子薄研究中的最新进展常规的正电子湮没技术和慢正电子湮没技术可以准确地探测高分子薄微观缺陷自由体积尺寸分数浓度深度分布该测试技术将在研究各种高分子薄的微结构性能关系表面效应界面效应等方面发挥积极的作用正电子湮没寿命谱正电子素自由体积高分子常规正电子湮没技术在高分子薄膜研究中的应用慢正电子湮没技术在高分子薄膜研究中的应用结语

26 6 Vol. 26 No. 6 2006 12 MEMBRANE SCIENCE AND T ECHNOLOGY De . 2006 : 1007- 8924( 2006) 06- 0077- 04 正电子湮没技术在高分子薄膜研究中的应用 1, 2 1* 1 1, 2 2 1,

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