《金属X射线衍射与电子显微分析技术》高等学校教学用书.pdf

[General Information] 书名=高等学校教学用书 金属X射线衍射与电子显微分析技术 作者=李树棠著 页数=376 出版社=北京市：冶金工业出版社 出版日期=1980 SS号 DX号=000000929233 URL=/bookDetail.js p?dxNumber=000000929233d=E160110EAED58CAAE DDF2B5954A9664D 封面 书名 版权 前言 目录 目录 上篇　X射线衍射分析技术 第一章 X射线的产生和性质 第一节 X射线的本质 第二节 X射线的产生 第三节 X射线谱 第四节 X射线与物质的相互作用 第五节 X射线的探测与防护 第二章 晶体学基础 第一节 晶体结构和空间点阵 第二节 晶体对称的基本概念 第三节 晶面与晶向指数 第四节 晶面间距、晶面夹角和晶带 第五节 晶体投影 第三章 X射线衍射的几何原理 第一节 布拉格定律 第二节 倒易点阵 第三节 衍射矢量方程和厄瓦尔德图解 第四章 X射线衍射线束的强度 第一节 一个电子对X射线的散射 第二节 一个原子对X射线的散射 第三节 单胞对X射线的散射 第四节 一个小晶体对X射线的散射 第五节 一个小晶体衍射的积分强度 第六节 粉末多晶体衍射的积分强度 第七节 消光效应对衍射强度的影响 第五章 多晶体衍射的照相方法 第一节 粉末法成相原理 第二节 德拜-谢乐法 第三节 衍射花样的指数化 第四节 辐射的选择 第五节 晶体单色器 第六节 聚焦照相法 第七节 平面底片照相法 第八节 高温和低温照相技术 第六章 X射线衍射仪法 第一节 测角仪的工作原理 第二节 X射线探测器的工作原理 第三节 辐射测量中的主要电子电路 第四节 计数测量方法和实验参数的选择 第五节 衍射线束的强度 第七章 劳厄法及晶体取向测定 第一节 劳厄实验方法的一般介绍 第二节 劳厄法成相原理和对衍射斑点分布规律的解释 第三节 劳厄衍射花样指数化 第四节 晶体取向的测定 第八章 点阵常数的精确测定 第一节 一般介绍 第二节 德拜-谢乐法中系统误差的来源 第三节 德拜-谢乐法的误差校正方法 第四节 衍射仪精确测定点阵常数 第九章 X射线物相分析 第一节 物相定性分析 第二节 物相定量分析 第十章 宏观内应力的测定 第一节 一般介绍 第二节 宏观内应力的测定原理 第三节 宏观内应力的测量方法 第十一章 织构的测定 第一节 冷拉金属丝织构的测定 第二节 冷轧板织构极图的测定——照相法 第三节 冷轧板织构极图的测定——衍射仪法 第四节 极图的分析 第十二章 荧光分析 第一节 基本原理 第二节 晶体色散仪和分光晶体 第三节 荧光X射线定量分析 下篇 电子显微分析技术 第十三章 电镜的结构与成象 第一节 光学显微镜的局限性 第二节 电子的波长 第三节 电子透镜 第四节 电子透镜缺陷和理论分辨距离 第五节 电子透镜的场深和焦深 第六节 电镜的主要结构 第七节 电镜的常规成象与放大倍率的选择 第八