半导体参数分析仪-苏州大学纳米材料与技术教学中心.DOCVIP

苏州大学申购大型精密仪器设备 可行性论证报告 (10万元～40万元) 仪器名称 吉时利4200-SCS型半导体特性分析系统 申请单位 功能纳米与软物质（材料）实验室 负 责 人 李述汤 填表时间 2009 年 11 月 23 日 一、申购仪器设备概况 仪器设备 名 称 中文 吉时利4200-SCS型半导体参数分析仪 外文 Keithley 4200-SCS Semiconductor Characterization System 型 号 厂 商 参考单价（万元） 数 量 总 价（万元） 4200-SCS Keithley 24 1 24 主要技术指标（含仪器设备的详细配置） 一、系统配置清单： 1、半导体参数分析仪（4200-SCS/F）主机（1台） （1）含两个高分辨率中功率SMU（源测量单元） （2）内置12英寸液晶显示器 （3）主机含以太网（LAN）,GPIB, 3个USB接口，RS-232接口，并行接口，250G大容量硬盘，可刻录DVD光驱 （4）含全套测试软件 2、半导体参数分析仪电流前置放大单元（4200-PA）（2个） 适用于4200-SMU，可扩展SMU的最小电流测量分辨率达0.1 fA。 3、三同轴电缆转接两同轴电缆接头（237-BNC-TRX）（3个） 二、主要技术指标 1、具