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SooPAT 一种激发荧光强度均匀校正方法 申请号：201110064845.3 申请日：2011-03-17 申请(专利权)人中国科学院自动化研究所 地址 100190 北京市海淀区中关村东路95号 发明(设计)人田捷 薛贞文 杨鑫 秦承虎 主分类号 A61B5/00(2006.01)I 分类号 A61B5/00(2006.01)I 公开(公告)号102172324A 公开(公告)日2011-09-07 专利代理机构 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人 梁爱荣 注：本页蓝色字体部分可点击查询相关专利 (19)中华人民共和国国家知识产权局 *CN102172324B* (12)发明专利 (10)授权公告号 CN 102172324 B (45)授权公告 日 2012.11.21 (21)申请号 201110064845.3 审查员 杨德智 (22)申请 日 2011.03.17 (73)专利权人 中国科学院自动化研究所 地址 100190 北京市海淀区中关村东路95 号 (72)发明人 田捷 薛贞文 杨鑫 秦承虎 (74)专利代理机构 中科专利商标代理有限责任 公司 11021 代理人 梁爱荣 (51) Int.C l. A61B 5/00 (2006.01) (56)对比文件 CN 201754202 U,2011.03.02, 全文. CN 101750750 A,2010.06.23, 全文. JP 特开2006-308556 A,2006.11.09, 全文. 权利要求书 1 页 说明书 3 页 附图 1 页 权利要求书1 页 说明书3 页 附图1 页 (54) 发明名称 一种激发荧光强度均匀校正方法 (57) 摘要 本发明涉及一种激发荧光强度均匀校正方 法，所述方法的技术方案如下：利用光谱曲线相 同的两片激发滤光片，一片放在激发光源出口，另 一片放在CCD 探测器前，经激发光照射物体时探 测器获得第一图像 ；将放在CCD 探测器前的滤光 片换成发射滤光片，经激发光照射物体时探测器 获得第二图像。接下来将第二图像中像素值除以 第一图像中相应像素值获得中间校正图像。对中 间校正图像进行归一化和取整处理得到最终校正 图像。经过激发荧光强度均匀校正后的图像修正 了受激发的物体表面接收激发光强度不均匀所带 来的误差，因此能更真实地反映受激发的荧光图 B 像。 4 2 3 2 7 1 2 0 1 N C CN 102172324 B 权 利 要 求 书 1/1 页 1. 一种激发荧光强度均匀校正方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤 ： 步骤S1 ：将第一激发滤光片放在激发荧光源出口，将第二激发滤光片放在CCD 探测器 前，经激发荧光照射物体时探测器获得第一图像 ；第一激发滤光片和第二激发滤光片为带 通滤光片，带通滤光片中心波长为488nm、半峰全宽为20nm、透过率＞90％； 步骤S2 ：第一激发滤光片仍放在激发荧光源出