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第二章 几何量测量技术基础 气动量仪喷嘴可装在比较仪座上做长度测量，也可以装上气动塞规(测孔量头)和气动卡规(测轴量头)分别检验孔、轴直径。 光学机械式测量仪器在机械制造和仪器制造中应用比较广泛。在长度测量中，光学计、测长仪、测长机、接触式干涉仪是具有代表性的仪器。 1. 立式光学计 悬臂 制动器 立柱 底座 微调手轮 制动器 螺母 测头 反射镜 物镜 划分板 2. 卧式测长仪：由底座6、万能工作台2、测座1、尾座4以及附件组成。测座1和尾座4可在底座6的导轨上移动和锁紧。工作台2的升降和前后移动，可分别借助手轮9和8。工作台绕垂直轴和水平轴转动，可分别用杠杆3和7来调整。 底座 杠 杆 尾 座 工 作 台 测 座 杠杆 手轮 手轮 手轮 测砧 测轴 显微镜 被测物 测量前先将测轴2与尾座中的测砧4接触，从读数显微镜3中读数。装上工件，使工件与测砧4接触。然后移动测轴2与工件接触，并再次从读数显微镜3读数。两次读数之差即为工件尺寸。 3.干涉仪 干涉仪主要用于精密测量，如测量量块等。在生产中常用的是接触式干涉仪。 光源 滤色片 聚光镜 分光镜 参考镜 补偿镜 反射镜 迈克尔逊干涉仪：利用干涉原理测量光程之差从而测定有关物理量的光学仪器。 两束相干光间光程差的任何变化会非常灵敏地导致干涉条纹的移动，而某一束相干光的光程变化是由它所通过的几何路程或介质折射率的变化引起，所以通过干涉条纹的移动变化可测量几何长度或折射率的微小改变量。 测量精度决定于测量光程差的精度，干涉条纹每移动一个条纹间距，光程差就改变一个波长，所以干涉仪是以光波波长为单位测量光程差的，其测量精度之高是任何其他测量方法所无法比拟的。 测量系统：组装起来进行特定测量的全套测量仪器 特点：测同一工件上较多的几何量和形状比较复杂的工件。 举例：齿形齿向测量仪、齿轮综合精度检查仪。 第六节 测量误差和数据处理 一、测量误差的基本概念 在测量过程中，由于计量器具本身的误差以及测量方法和测量条件的限制，任何一次测量的测得值都不可能是被测几何量的真值，两者存在着差异。这种差异在数值上则表现为测量误差。 1. 绝对误差：被测几何量的测得值与其真值之差 δ=l－L 式中 δ－绝对误差 L－被测值的真值 l－测量结果 2. 相对误差：f=δ/ L 由于真值不能确定，实际上L用的是约定真值。 测量误差的来源 1. 计量器具的误差：计量器具设计、制造和使用中的误差，总和反映在示值误差和测量重复性上。例如：游标卡尺的刻线距离之间不准确；指示表的分度盘与指针回转轴的安装有偏心。相对测量中量块的制造误差。 2. 方法误差：测量方法不完善引起的。包括工件安装、定位不准确、计算公式不准确、测量方法选择不当等。例如：测量大型工件的直径，可用直接测量法，也可以用弓高弦长法，测量误差不同。再如：接触测量时，测头测量力的存在，被测零件和测量装置发生变形。 3. 环境误差：测量时环境条件（温度、湿度、气压、照明、电磁场等）不符合标准的测量条件。 4. 人员误差：测量人员人为差错，如瞄准不准、读数或估读错误。 二、测量误差的分类 1. 系统误差：在重复条件下，对同一被测量进行无限多次测量所得结果的平均值与被测量的真值之差，称为系统误差。由于系统误差及其原因不能完全获知，因此通过修正值对系统误差只能有限程度的补偿。当测量结果以代数和与修正值相加之后，其系统误差之模会比修正前的要小，但不可能为零。 2. 随机误差：等于误差减去系统误差。因为测量只能进行有限次数，故可能确定的只是随机误差的估计值。随机误差导致重复观测中的分散性。 随机误差主要是由一些随机因素，如环境变化、仪器中油膜变化以及对线、读数不一致等所引起。它在单次测量中，误差的出现是无规律可循的，即它的大小、正负是不可预知的。但若进行多次重复测量时，误差服从统计规律，因此常用概率论和统计原理对它进行处理。 3. 粗大误差：读数读错或记数记错或仪器出现不正常等等主、客观原因产生差错。 图(a)表明系统误差小而随机误差大，因为这时弹孔很分散，但其弹孔的平均值靠近靶心。 图(b)表明系统误差大而随机误差小，因为这时弹孔比较集中，但其弹孔的平均值距靶心远。