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ICRF加热时中子辐射的研究 报告人：钟国强 研究背景 实验方法 无需按进行过多参数扫描，可以首先选择一些较容易实现平稳放电的参数进行实验，例如： IP=160kA，ne=2.0，PLHI=500kW。 无需特别要求实验时间，可以与一些其它实验内容同步进行，例如：低杂波、离子回旋波的耦合实验。 该实验提案需要放电控制平稳，尽量避免密度起伏不平、逃逸严重、杂质过高的放电情形出现。 等离子体电流：IP ~160(kA ) 等离子体密度：ne ~2.0 (1019 /m3) 低杂波加热功率：P LHW ~ 500 (kW) 离子回旋加热功率：P ICRF 200 (kW) ? MAX 离子回旋频率：ficrf (24、30、56MHz) 典型结果 24MHz的ICRF调配放电实验，当IP～120kA、ne～1.9×1019m-3、Bt～1.83T（It～3900A），ICRF实际注入功率接近200kW时，密度、软X射线辐射强度、内能以及中子辐射强度均会明显增强，而ECE则先小幅增加后减弱。伽马射线辐射强度很弱的情况下，忽略高能伽马射线产生光中子的影响。由图1可以知ICRF加热期间能量快中子数量明显增加了。 27MHz的ICRF加热实验（IP～150kA、 ne～2.8×1019m-3、Bt～2.0T、Picrf～570kW）的波形见图2。#109888为OH放电参考炮，且通过主动进气使得等离子体密度与加ICRF放电的#109890相同， 以便尽可能消除加ICRF期间密度上涨带来的影响。对比显示，#109890加ICRF期间中子辐射强度明显高于未加ICRF的#109888。同上所分析，#109888与#109890两炮伽玛射线以及光中子所带来的影响很小，可不必考虑。图3为BF3(加慢化体)、3He（不加慢化体）、3He（加慢化体）探测器所测量的中子脉冲幅度谱,综合分析，27MHz的ICRF加热时，高能中子数量同样大量增加。图4为电荷复合交换光谱诊断测得的离子温度分布粗略图，很明显加波期间离子的温度也明显升高了约50%以上。 结论及展望 通过中子诊断获得的实验数据进行分析得到，HT-7上24\27MHz的ICRF加热期间均能产生较多的高能离子，从而显著增加了聚变反应率，使得中子辐射迅速增强。在较高密度下，高能离子通过碰撞将能量传递给背景离子，从而使得离子温度也明显升高。由于不同频率的ICRF模转换加热的混合共振层位置的差异，27MHz的ICRF加热时需要更高纵场与等离子体参数，以及更大的波功率，才能取得明显的典型实验现象。 进一步完善中子诊断系统硬件，并对探测器进行标定，希望能够在EAST上开展高功率实验时，能够进行更深入的研究。 谢谢！ * HT-7 2009年12月HT-7实验提案总结 上轮的HT-7实验在加24MHz 的ICRF加热时，当实际注入功率大200kW，中子强度测量信号均显著增加。 通过中子强度随时间演化的结果，并结合其他相关诊断，研究不同形式的加热方式下，ICRF与等离子体耦合、改善约束、加热离子以及驱动高能离子的各种行为。 补充上轮HT-7 实验由于部分诊断数据缺乏（离子温度、内能、准确的电子温度密度以及中子能谱 ），而带来的数据分析处理困难。 检测新引进的中子测量系统硬件。 实施情况 本实验提案，为跟随其他实验主线开展的，未单独要求机时， 获得的有效炮为20炮。 24MHz ICRF加热： 图1、24MHz ICRF加热时中子辐射的行为 27MHz的ICRF加热： 图2、27MHz ICRF加热与OH放电参考炮对比 图3、各路中子探测器输出的脉冲幅度谱 图4、CXRS测得的离子温度对比 * HT-7