文献检索4.复习大纲.pdf

《文献检索》知识点总结 考考试时间试时间 年1212月月1818 日日 18:00-19:00 考试地点：图书馆406 成绩分配 3(平日成绩):7(机考成绩) 判断题判断题 平日作业 选择题 小测验小测验 检索题 本学期所学内容 1 基础知识 2 中文全文数据库 3 专利知识及数据库 4 外文文摘数据库 5 外文全文数据库 1、判断文献类型，选择合适的数据库找全文，涉及：期 刊刊、图书图书、标准标准、会议会议、专利专利、学位论文共学位论文共66种类型种类型，中中 国知网、超星、PQDT、宇飞、读秀、Springer、Elsevier 、、Wileyy 、、SciFinder、、EI。 2、重点考试的数据库：web of science(SCI) 、EBSCO、 欧洲专利局、万方、维普、中国国家知识产权局、。 考点：检索式编制（选择最佳的检索式）、检索式解读（ 选择检索结果最多或最少的检索式）。 3、专利解读，中国国家知识产权局专利，判断专利类型 或法定有效期；欧洲专利局专利，根据同族专利判断收保 护的国家护的国家。 4 、各种号码识别、查全查准率。 文献类型：期刊论文 126:100011 AA sett off genetitic markkers ffor ththe chhromosomes off the imperfect yeast Arxula adeninivorans. SamsonovaSamsonova, IdaIda AA.;; KunzeKunze, GotthardGotthard;; BodeBode, Rudiger; Boettcher, Fritz (Inst. Genetics Biochem., ErnstErnst-MoritzMoritz-ArndtArndt-UnivUniv..,, GreifswaldGreifswald DD-1748717487,, Germany). Yeast, 12(12), 1209-1217 (English) 1996 Wileyy CODEN: YESTE3. ISSN: 0749- 503X. 1 文献类型判断文献类型判断 期刊期刊 ISSN号码1234-1234 Source:Source: JournalJournal ofof…… Volume: 21 Issue: 4 Pages: 11-12 Vol. 4 Iss: 4, pp.167 - 175 会议文献 127:364948 RIERIE niitrogen pllasma-iindducedd structurall chhanges iin thin SiO2 layers.Atanassova, E.; Paskaleva, A. (Institute of Solid State Physics, Bulg. Acad. of Sciences, Sofia 1784, Bulg.). Proc. - Int. Conf. Microelectron., 21st, Volume 2, 617-620. Institute of Electrical and Electronics Enggineers: New York,, N. Y. (English) 1