光电传感器应用技术第2版教学课件作者王庆有第13章节第2节课件幻灯片.pptVIP

13.5 CCD图像传感器用于平板位置的检测 13.5.1 平板位置检测的基本原理 （13-25） 13.5.3测量范围与测量精度 1.测量范围 根据式(13-23)，选用TCD1206SUP时，像元数为2 160，基准点取为1 080像元，即N的最大值为2 160，N0＝1 080，像元中心距为14μm，α角为45o时，最大测量范围应为0.7 (N-N0)l/ β(mm)，与光学系统的横向放大倍率β成反比。 光学系统的横向放大倍率为像距与物距之比，即，所以适当地调整物、像距，可以得到较为满意的测量范围。 2.测量精度 (1) 弥散斑中心位置引起的误差 如图13-24所示。光的强度较强，使线阵CCD出现饱和现像，输出信号如图中虚线所示。 将引起光敏单元中心位置偏移，引起测量误差。 克服方法是使CCD退出饱和区。在不饱和的情况下判断像中心位置是提高测量精度的关键。 引入细分技术，可使像中心位置的判断精度提高到1/N像元，N为细分系数。 必须保证光源稳定和成像光学系统的分辨率，否则细分是不可靠的。 线阵CCD饱和溢出是单方向的，溢出引起像元中心的偏移程度与饱和深度有关。 13.6利用线阵CCD非接触测量材料变形量的方法 材料实验机常用接触式刀口引伸计测量材料在拉伸过程中的变形量。 拉伸变形过程中，电阻应变片传感器靠刀口压被测件的很大摩擦力将变形量传递给应变计，刀口与被测件间的相对运动很少，被忽略。 因靠人工安装，刀口摩擦力不确定，要产生测量误差。测量金属材料时，测量过程中刀口的磨损将影响测量精度，特别是材料的断裂产生震动和冲击将使刀口传感器报废。 用接触式引伸计测量材料拉伸变形量时必须在材料断裂之前将引伸计卸下来，故无法对材料拉伸变形的全程进行测量。 利用线阵CCD非接触测量变形量，其优点在于非接触、无磨损、不引入测量的附加误差、测量精度高，能够测量材料拉伸变形的全过程，特别是能够测量材料在断裂前后的应力应变曲线，从而能够测得材料的各种极限特性参数。 13.6.1 材料拉伸变形量的测量原理 用线阵CCD非接触测量材料拉伸变形量的原理如图13-25所示。 1.信号的提取 该材料拉伸测量系统能同时测材料X（横向）和Y（纵向）两个方向拉力作用下产生的变形量。 系统采用两个拉力传感器分别测量两个方向的拉力，采用两个线阵CCD摄像头同时进行两个方向变形量的测量。 如图13-26所示，在被测材料的两侧分别画出X方向和Y方向的2条标距标记。 两个同步驱动的线阵CCD摄像头，它们分别摄取X方向和Y方向白色标距信号，并将其输出的载有白色标距宽度信息的信号送入具有细分功能的二值化数据采集卡。 二值化数据采集卡将所采集的两白条间距的宽度数据送入计算机内存，获得材料在两个方向上的拉伸变形量。 2. 材料拉力-变形量的测量 材料拉力-变形量的测量原理方框图如图13-27所示。材料拉伸试验过程中，被测材料在X、Y两个方向上均加载荷，用压力 传感器将载荷变为输出的电压，再用12位A/D数据采集卡将载荷送入计算机。 3、二值化数据采集 应力应变测量的二值化数据采集系统在X方向与Y方向上的测量原理相同，利用二值化数据采集电路将N11、N12、N13和N14采集的数据送入计算机内存，在软件支持下计算出X方向上两个标距间的中心距L为 （13-27） 式中，L0为线阵CCD像敏单元的尺寸，? 为光学系统的横向放大倍率。 4. 应力应变曲线 将变形量作为横坐标，拉力为纵坐标，画出应力应变曲线如图13-28所示的。 5. 测量范围与测量精度 应力应变测量系统采用TCD1500C线阵CCD为光电传感器，它具有5340个像敏单元，像敏单元的尺寸为7×7μm ，像元中心距亦为7μm 。 (1) 光照强度变化对测量精度的影响 CCD输出的信号Uo受光照的影响，采用浮动阈值二值化处理电路可以克服光照增强影响，提高测量精度。 (2) 光学系统畸变的影响 成像系统存在畸变，它在不同视场有着不同的放大倍率，随着视场的变化放大倍率也在变化，将影响拉伸测量的精度。应该尽量选用畸变小的成像物镜。 6. 现场测试结果 试验材料:黑色纵向加线橡胶； 试样数量:10； 试样尺寸:30mm?20mm； 试样几何形状:十字型； 加载速率: 纵向速率:10cm/s，横向速率:50cm/s。 7. 讨论 用线阵CCD对材料拉伸变形量进行非接触测量是现代材料试验机必备的测量仪器。取代刀口式电阻应变计是技术进步。当然还需要进一步提升测量范围与测量精度。