LCM出货检验标准.doc.docVIP

版本 更改内容 生效日期 A 初版发行 增加标准分级，修改/增加其它相关检查项目 2012-04-08 编写: _______________ 日期：_____________ 审批: _______________ 日期：______________ 文控中心审核 日期： 如此印章并非红色，代表此文件并非合法之版本，并不会受到控制及更新，请使用受控制之文件 文件控制印章 此标准用于C-STN/TFT液晶显示模块 抽样计划： 按照抽样方案MIL-STD-105D Level Ⅱ划分样品可以接受或拒绝的等级如下（默认检查等级为2A级）： 3A级、2A级：重缺陷：采用 AQL 0.25 轻缺陷：采用AQL 0.4 A级：重缺陷：采用AQL 0.65 轻缺陷：采用AQL 1. 2. 检查条件： 在20～40W日光灯的光照环境下，被检查样品放在离检查者眼睛20~30cm的位置，检查者在垂直方向45度区域内观察。 3. LCD区域定义： 区域A：符号或数字显示区 区域B：视区（除A区）（A区+B区=最小视区，相对于模块确认图中的VA区范围） 区域C：视区外围（模块确认图的VA区外，客户机壳设计应参考此范围，装机后看不到 此区域）. 注：在区域C中有看得见的缺陷，但不影响产品稳定性及客户产品组装，允许出货。 4. 检查标准 4.1重缺陷 序号 检验项目 判定标准 缺陷程度 判定方法 4.1.1 所有功能缺陷 1).不显示、显示异常、. 2). 断笔、漏笔、短路 3) 背光不亮，或点亮不正常、闪烁 4) TP不触摸 重缺陷 目视 测试夹具 菲林卡 卡尺 4.1.2 遗漏 缺少任何元件 4.1.3 尺寸超出 模块外观尺寸超出图纸上的规格值 4.2外观缺陷： 序号 检验项目 判定标准 缺陷程度 判定方法 4.2.1 清晰点 暗、黑、白点缺陷 针孔, 异物, 偏光片下污点 TP污点 点状缺陷Φ的定义： y Φ= x 点不良大小≥单个PIXEL的50%为一个暗点 亮点不允许 轻缺陷 目视 测试夹具 菲林卡 1． 3A级 区域 尺寸（mm） 最多允许数量 A B C Φ≤0.1 忽略不计 忽略不计 0.10＜Φ≤0.15 1 0.15＜Φ≤0.20 1 Φ＞0.20 0 备注：最多容许2个，且两点之间距离10mm以上。 尺寸（mm） 最多允许数量 A B C Φ≤0.10 忽略不计 忽略不计 0.10＜Φ≤0.15 2 0.15＜Φ≤0.20 1 0.20＞Φ 0 备注：缺陷中包括0.10＜Φ≤0.15的点，则最多容许2个点，不含，则最多容许1个点，且两点距离10mm以上 2、2A级 轻缺陷 目视 测试夹具 菲林卡 尺寸（mm） 最多允许数量 A B C Φ≤0.15 忽略不计 忽略不计 0.15＜Φ≤0.20 2 0.20＜Φ≤0.25 1 0.25＜Φ 0 3、 A级 最多容许3个点，且每个点之间的距离10mm以上。 轻缺陷 目视 测试夹具 菲林卡卡 4.2. 外观缺陷 序号 检验项目 判定标准 缺陷程度 判定方法 4.2.2 线缺陷 黑线, 白线, TP划伤 点亮可见且边缘模糊的线缺陷：（明显黑、白线需要参考限度样板。） 3A级 尺寸（mm） 最多允许数量 L（长度） W（宽度） 区域 A B C 忽略不计 W≤0.02 忽略不计 忽略不计 L≤2.0 0.02＜W≤0.03 1 0.03＜W 当点缺陷处理 轻缺陷 目视 测试夹具 菲林卡 2A级 尺寸（mm） 最多允许数量 L（长度） W（宽度） 区域 A B C 忽略不计 W≤0.03 忽略不计 忽略不计 L≤3.0 0.03＜W≤0.04 2 L≤3.0 0.04＜W≤0.05 1 0.05＜W 当点缺陷处理 最多容许2条，2条线间最小距离为20mm以上。 轻缺陷 目视 测试夹具 菲林卡 A级 轻缺陷 目视 测试夹具 菲林卡 尺寸(mm) 最多允许数量 L（长度） W(宽度) 区域 A B C