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试验九金氧半场效电晶体的特性-Mipaper
應用電子學實驗講義(I)
實驗九 金氧半場效電晶體的特性
實驗目的
1.瞭解 NMOS 與 PMOS 之直流操作特性,並比較他們的異同。
2. 測試操作特性的溫度效應。
實驗儀器
ZVP4424A 、ZVN4424A 各一枚; 電熱吹風機(請自備) 。
2SK1828 、2SJ343 各一枚; 精密電阻 51 Ω 一枚;
精密電阻 1k 一枚; 冷卻劑;
預習問題
1.閱讀應電實驗室網頁元件資料庫中 ZVP4424A 和 ZVN4424A的資料,我們用的是 TO-92
包裝的元件,請畫出他們的接腳。並查出他們的元件參數( k 與 V )範圍。
T
2.寫出 NMOS和 PMOS在線性區及飽和區的電流電壓特性方程式。
3. 為何將加強型 MOS的 G和 D極短路,在 DS間加偏壓, MOS 一定在截止或飽和區操作?
4.閱讀應電實驗室網頁元件資料庫中 2SK1828和 2SJ343的資料,請畫出他們的接腳並記錄
元件背上英文編號。
背景知識
1. MOSFET的操作原理及分類。
2. NMOS和 PMOS的直流電流電壓特性。
ZVP4424A和 ZVN4424A的說明 :
這個實驗所用到的 MOSFET 編號是 ZVP4424A和 ZVN4424A ,前者是PMOS ,而後者是
NMOS電晶體,他們的接腳圖請查閱元件資料庫的網頁。我們使用的這兩種電晶體源極 (source )
已經和基板( substrate )連在一起,也有一些其他的電晶體源極(source )和基板(substrate )
沒有連在一起,我們可以根據需要來選擇用哪一個電晶體。
這次實驗所使用的 MOSFET都是加強型的( enhancement ),在VGS=0時,他們應該是在截止
區( OFF ),即源極(source )和汲極(drain )間不導通。
實驗步驟
一MOS中之二極體
我們這裡要利用實驗「二極體的特性」的步驟 (「動態二極體特性曲線」測試方法)來測試
PMOS和 NMOS中 D (汲)極和基板間二極體的特性。測量方法示意圖如下圖( 9.1) :
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應用電子學實驗講義(I)
A
D
A
A
B
Ch Ch D
R G
ZVP4424
1k
訊號產生 A
S
器
示波器 B
B
的 X-Y 圖 9.1
1.我們先選一個 PMOS 來測試,閘極和源極連在一起以避免閘極浮接效應(floating gate
effect
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