微波系统导论试验二.PDF

微波系統導論實驗二 網路分析儀雙埠校準與微波放大器量測 2-1 網路分析儀雙埠校準 實驗原理： 在實驗一使用網路分析儀進行單埠校準後，可量測天線的輸入阻抗特性。當待測物為雙埠元 件時如圖 1(a)所示 ，則須對網路分析儀進行雙埠校準。以S 參數表示雙埠待測物之特性 ，則矩陣 參數表示為 b S S a      1 11 12 1      b S S a  2   21 22  2  b b b b 其中 1 1 2 2 ， 及 為第1 及第2 埠之輸入信號， 及 S11 ,S12 ,S21 ,S22 a1 a2 b1 a a a a 1 a 2 0 2 a1 0 1 a 2 0 2 a1 0 b2 為第1 及第2 埠之輸出訊號 。 Device under test (DUT) Reference planes for calibration (a) (b) 圖1 、(a) 網路分析儀雙埠量測以及(b) S參數示意圖 。 圖1(b)為待測之雙埠網路S參數示意圖，S11代表埠1的反射係數(reflection coefficient) ，S22代表埠2 的反射係數，由反射係數可以求得待測元件的輸入阻抗Zin 、反射損耗(return loss, RL) 、電壓駐波 比(VSWR)等參數; S21代表正向穿透係數(transmission coefficient) ，S12代表反向穿透係數，由穿透 係數則可以求得待測元件之衰減常數α 、穿透損耗(insertion loss, IL)等參數。各S參數之定義與其 代表意義列於表一中。圖1(b)為理想之雙埠元件S參數，實際上，網路分析儀由射頻訊號源發射 之微波訊號，經過網路分析儀之內部電路，到達待測元件時，已受到內部電路之反射、不匹配和 元件頻率響應等影響，而這些因素將造成量測上的誤差。 1 S-參數 定義 量測值 S b /a , a =0 埠1反射系數 11 1 1 2 S b /a , a =0 埠1至埠2穿透係數 21 2 1 2