多晶体X射线衍射方法.ppt

本章主要内容 第一节 粉末照相法 第二节 X射线衍射仪 基本的衍射方法 第一节 粉末照相法 成像原理 德拜照相机 试样的制备 底片的装置 衍射强度的测量 照相法的优缺点 1、成像原理 2、德拜照相机 机盒放置底片;相机的直径一般有57.3mm，114.6mm，190mm。 试样架安置试样并对其进行调整。它位于相机的中心轴线上。 光阑限制入射X射线的不平行度，并根据孔径的大小调整入射线的束径和位置。 承光管监视入射X射线的和试样的相对位置，同时吸收透射的X射线，减弱底片的背景。 3、试样的制备 样品要求a. 细度：10-3cm～10-5cmb. 制成直径为0.3mm～0.6mm，长度为1cm的细圆柱状粉末集合体 制备过程 粉碎;研钵磨细;真空或保护气氛下退火;制作细圆柱试样;将试样安装在试样夹头上，使试样轴与照相机中心轴重合 细玻璃丝粘结;将粉末填充在硼酸锂玻璃或醋酸纤维制备的细管中;直接利用金属丝作试样 4、底片安装 正装法 X射线从底片接口处入射，照射试样后从中心孔穿出 低角度的弧线位于底片中央，高角度线则靠近两端。弧线呈左右对称分布。衍射线对之间的距离U＝4θR 反装法 X射线从底片中心孔射入，从底片接口处穿出。其特点是弧线亦呈左右对称分布，但高角度线条位于底片中央。衍射线对间的距离V＝（2π-4θ）R 不对称法 在底片的1/4和3/4 处有两个孔。特点是弧线是不对称的。低角度和高角度的衍射线分别围绕两个孔形成对称的弧线。衍射线对之间的距离2θ/π＝S/2W 刀片长度:Uk＝4θkR,， 4θk称为相机常数 底片安装示意图 目估法 以最黑的一条弧线之黑度作为100，其他弧线的黑度与之比较，定出各自的相对黑度。 显微光度计测量 先测量底片上弧线的黑度，再换算得出衍射线的相对强度。 6、照相法的优缺点 优点 所需样品较少 设备简单，价格便宜 所有衍射线都记录在底片上 衍射强度比较均匀 缺点 拍摄时间过长 衍射强度准确度不高 第二节 X射线衍射仪 X射线衍射仪的结构 测角仪 X射线探测器 X射线计数电路 实验条件的选择 试样的制备方法 衍射数据的测量 衍射仪法的特点 1、X射线衍射仪的结构 核心部件是测角仪 2、测角仪 狭缝: A,B 样品台: H X射线源: S 光路布置：光阑 F 计数管：G 测角仪台面：E 测量动作：θ－2θ联动 2.2 测角仪衍射几何 2.3 测角仪的光学布置 2.4 光阑 3、X射线探测器 气体电离计数器（正比计数器） 固体闪烁计数器 一、气体电离计数器 气体电离计数器原理图 气体的放大作用 X射线光子能使气体电离，产生的电子在电场作用下向阳极加速运动，高速的电子再使气体电离，新产生的电子又可引起更多气体电离，于是出现电离过程的连锁反应。这样，一个X射线光子的照射就有可能产生大量电子，这就是气体的放大作用。 计数率 计数管在单位时间内产生的脉冲数称为计数率 它的大小与单位时间内进入计数管的X射线光子数成正比，亦即与X射线的强度成正比 气体电离计数器特点 脉冲大小（脉冲的高度）和X射线光子能量成正比。 性能稳定，能量分辨率高，背底脉冲极低。 反应极快，分辨时间只需10-6秒。光子计数效率很高 对温度比较敏感，需要高度稳定的电压，和强大的放大设备。 二、闪烁计数器 2.1 原理 首先将接收到的X射线光子转变为可见光光子，再转变为电子，然后形成电脉冲进行计数。 闪烁体 用铊活化的碘化钠NaI（Tl）单晶体。 阴极 具有光敏性，产生光电子 光电倍增管 几个联极组成，将可见光转变为电脉冲。数量级可达几伏。 2.2 闪烁计数器的特点 脉冲的大小与X射线的能量有关。 反应很快，其分辨时间达10-8秒。在计数率达到105次/秒以下时，不会有计数的损失。 背底脉冲高，价格较贵，晶体易于受潮解而失效。 4、X射线计数电路 5、实验条件的选择 5.1 仪器参数 阳极靶的选择 原则是使阳极靶所产生的特征X射线不激发试样元素的荧光X射线。最常用的X射线管是Cu靶，其次是Fe和Co。 滤波片的选择一般情况下Z靶40,Z滤=Z靶-1; Z靶40,Z滤=Z靶-2 管压和管流的选择管压阳极靶元素K系激发电压的3-5倍管流选择与X射线管的功率有关 5.2 测角器 掠射角的选择 发散狭缝（DS）的选择 接收狭缝（RS）的选择 防散射狭缝（SS）的选择 5.3 扫描速度 一般物相分析采用2°/min～ 4°/min。 在点阵常数测定中，定量分析或微量相分析中，采用0.5°/min或0.25°/min 5.4 记录仪 走纸速度 时间常数 满刻度量程 记录方式