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ICT基本操作与保养 在线测试仪(ICT)的功能探讨 ICT(IN-CIRCUIT TESTER),又名在线测试仪或静态测试仪(与之对应的是动态测试),它利用微量的电流(约20MA以下),弱电压 (10V/48V以下),高速测量电路板上之开短路,错漏件,插反,断裂以及组件不良等,目前,ICT已成为业界提高产能,确保品质,展现生产能力,建立信誉的不可或缺的利器. ICT与电表的功能差异 电表一般用以测量单一零件. 而ICT不但可以测量单一零件,还可经由针床来测试实板上的零件,只是实板上有许多回路,易将信号源(电压源,电流源)分流,分压,故往往须加”Guarding”功能,才可使测量准确,简言之,”GUARDING”功能即是在与之连接的零件的另一端由系统加一等电位,使其电位差为零,从而避免分流. 有时,限于系统(ICT)所能提供的信号源有限, (无法如功能测试那样,上电实测),以及回路和零件之特性,会造成测量不准确.然而,ICT之目的为检查制程中的短断路,错件,漏件等.一般并不严格要求测量精确度.在编制程序时,须设定上下限,只要在上下限范围内即算作”PASS”.故ICT的测量较偏重”相对值”,而非”绝对值”. ICT测试功能局限 在实际的电板上,大量各式主,被动组件通过串,并联方式连接起来.下述情形,ICT无法测试或无法准确测试,对于大多数厂家,会对ICT不能测试出的器件,会安排做人工目视检查. 做人工目视检查 1.无测试探针的零件 一般来说,每个零件的两端(或各引脚)所在的铜箔(NET)均有探针触及才可测试. 在LAYOU时,要求开发部门对PCB的置针率达到100%.(可以用FABMASTER做选点分析) 2.小电容并联大电容(C1//C2),小电容不可测 两电容并联后,容值为C1+C2,一般而言,如果 C2的容值是C1的10倍以上,则C1不可测. 假设:C1=100NF;C2=1UF 当C1缺件时,C1+C2=1000NF,仍在880NF~1320NF的范围内,故C1不可测. 实际电子线路中,常见大,小电容并联,或者是小电容经电感或小电阻与大电容并联,所以小电容不可测的情形最常遇到. 3.大电阻并联小电阻R1//R2,大电阻不可测 一般而言,如果R1的容阻是R2的20倍以上,则R1不可测 两电阻并联后,其阻值为R1*R2/(R1+R2),比小电阻略小.这时大电阻缺件不可测.当然,如果R2错成R1,只要下限小于50,仍然可测. 同理与跳线并联的电阻(J//R),不可测. 4.小电阻过小,无法准确测试 虑及探针接触电阻,排线公母连接器之间电阻(反复插拔会增大)等影响,(约几百毫欧至几欧),故上限要放宽. 例如:四颗0.47OHM电阻并联,假设其中一颗缺件,系统不可测 5.同一金道上的跳线以及相并联的跳线不可测,不同粗细或不同材质的跳线不可测. 6.大电阻//大电容,大电阻无法准确测试. 不可测原因:大电阻只能用小电流来测试,但是,小电流会被电容吃掉.这是所说的’’大’’,实际调试时才能判定是否可测. 7.小电容//小电阻,小电容无法准确测试 采用AC法,小电容呈现高阻抗,与大电阻并联小电阻同理,小电容无法测. 采用交流相位分离法,当电容,电阻均较小时,其相位差渐趋于0.故小电容也无法准确测量. 8.与小电感并联的较大电阻,常不可测 采用定电流法,电感通直流,使电阻两端短接而不可测. 采用交流相位分离法,小电感并联大电阻,其相位差渐趋于∏/2,故常不可测.而与大电感并联的小电阻,则可试着以相位分离法测量出来(一定不延时). 9.电容并联电感,情况如下: 这时所说的电感,同理于小电容//小电阻,小电容无法准确测试.当电容较大时,其本身一般可以测.电容较小时,电感感值可以测.当然,如把电感当成一小电阻(一般须加延时测试), 始终可以测出可以断开或缺件的情形. 10,二极管//小电阻,二极管插反或漏件均不可测 对于硅材质的二极管,其正向偏置电压约 为0.7V. 当R约为35~45OHM以下时,二极管插反或漏件时均不可测. 因ICT系非破坏性测试,所提供电流较小,一般最大约为20MA.当R约为35OHM以下时,其正反向所量到的电压小于V=I*R=0.7V.若二极管插反甚至漏件,所量到的结果不变. 11,与跳线或电感并联的二极管(L//D,J//D)不可测 通常二极管的正向压降为