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失效分析课件第6讲
第六讲 失效评估基础 与失效分析方法 1.失效评估的提出 单件生产 与批量生产 单件失效分析 与批量质量控制 偶然失效 与必然性 失效率与 零件寿命 把个体的失效事件转化成群体的失效概率事件进行分析,通过数理统计方法分析零件或零件集成系统的失效或安全的可能性概率 失效评估 2.应力——强度分布干涉理论 零件要可靠使用,其强度必须超过外载荷的总应力 零件传统设计时,只考虑材料的平均强度和平均载荷 批量材料的强度和实际载荷均按一定的概率分布 批量材料的强度概率分布和实际载荷的概率分布重叠时,零件将发生失效 减少失效事件发生的概率 提高平均强度 降低平均载荷 概率分布变窄 载荷—优化设计 材料与零件质量控制 3.当量初始裂纹尺寸概率分布 零件加工过程中必然产生某些缺陷(如:表面缺陷、残余应力等 实际材料或构件中必然存在某些微观缺陷(如:夹杂、气孔、位错等) 这些缺陷按一定的参数符合概率分布 按损伤力学的观点,将这些缺陷等效成当量初始裂纹。 若当量裂纹扩展到一定尺寸时的寿命即为零件的寿命 零件的寿命也有一定的概率分布 4.影响失效的不确定因素分析 零件形状和尺寸在设计公差范围内的波动 实际材料基本性能参数随成分和加工工艺过程的变化 载荷的随机变化引起的危险应力的变化 零件损伤程度的检测估计的误差。 形成失效事件发生的不确定性 5.失效分析常用方法的选取 6.成分分析方法 检验和判别是否混料 化学成分是否合格 有害元素(AS、Sb、Bi、Pb、Sn、P、S等) 块样成分分析 湿法化学分析 发射光谱法等 定性、半定量、定量 相关成分与失效的关系 局部及微区成分 (源区成分 第二相成分 环境产物的成分) 电子探针 (EDX和WDX) 离子探针 薄膜透射扫描 如表面腐蚀 沿晶断裂的原因 表面及界面成分 俄歇电子能谱仪AES X射线光电子能谱ESCA 二次离子质谱SIMS 环境对失效过程的影响 气氛或介质的成分 质量分析仪 气相色谱仪 吸收光谱仪 7.成分分析思路 8.结构分析与应力分析 X射线法 电子衍射 穆斯波尔谱仪 基体、第二相、杂质或腐蚀产物 相结构分析 坑蚀法 二面角法 电子通道花样 表面痕迹法 位相结构 晶体位相分析 脆性涂抹法(定性) 应变片法(定量) 光弹法和光弹涂料法 密栅云母法 磁致伸缩法 应力 宏观应力(1类) X射线法 微观应力(2、3类) 通过成分不能确定的异相、氧化物、腐蚀产物、第二相 断裂面的晶面指数和裂纹晶向分析 应力状态 主应力主应变方向及数值 残余应力 工作应力 9.以失效抗力为线索的残骸分析 10.失效抗力与成分、组织、状态关系 11.统计图表法 对零件过去时效事件进行统计分析,用合适的图表形式表示出来,可以提供失效发生及发展的一般规律,可供类比,为预测失效准备条件,用于中、短期预测较为有效。 失效比重图 用一定的几何尺寸代表该类失效所占的比重 失效趋势图 用连续曲线的升降变化反映失效的动态变化过程的图形 失效主次图 以失效模式、失效机理、或失效原因为对象,按失效的数量主次排列成图。 失效控制图 是在失效趋势图的基础上,标有控制界限的趋势图 失效分布图 失效地区平面分布以图的形式表示出来 11.文字表格法-失效识别方法之一 12.失效树分析法(FTA) FTA法是一种逻辑推理分析方法。通过对可能造成系统失效的各种因素(包括软件、硬件、环境、人为因素等)进行分析,画出逻辑框图(即失效树),从而确定系统失效原因的各种可能的组合方式或发生概率以计算系统失效概率,采取相应的纠正措施,以提高系统可靠性的一种设计分析方法。 FTA法具有很大的灵活性,不只局限于对系统可靠性作一般分析,可以分析系统的各种失效状态。不仅可以分析某些零部件失效对系统的影响,还可以对导致这些零部件失效的特殊原因进行分析。 FTA法是一种图形演绎方法,是失效事件在一定条件下的逻辑推理方法。它可以围绕某些特定的失效状态作层层深入的分析。因而在清晰的失效树图形下,表达了系统的内在联系,并指出零部件失效与系统之间的逻辑关系,找出系统的薄弱环节。 FTA法不仅可以进行定性的逻辑推导分析,而且可以定量地计算复杂系统的失效概率及其它的可靠性参数,为改善和评估系统的可靠性提供定量的数据。 FTA法德步骤,因评价对象、分析目的、精细程度等而不同,一般为:失效树的建造、失效树的定性分析、失效树的定量分析、基本事件的重要度分析。 所谓最小割集是指包含在这个集合里的全部基本事件发生是造成顶事件发生的必要充分条件,它表示系统的危险性,每一个最小割集都是顶事件发生的一种可能;即最小割集表示了哪些故障和差错同时发生时,顶事件就发生。失效树中有几个最小割集,顶事件的发生就有几种可能。最小剂集越多,系统越危险。 定性分析-最小割集的求解 所谓最小径集是指包含在这个集合内部
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