中科大《表面界面》研究生课程用课件高分子表面红外光.pptVIP

高分子表面红外光谱研究 聚合物表面的红外光谱 非透射谱 表面区域（5mm）的结构信息 反射-吸收谱 衰减全反射谱 （ATR） 漫反射谱 光声光谱 衰减全反射谱 多次内反射 MIR 三氯乙酸对聚对苯二甲酸二乙酯侵蚀 聚酯以反式（伸展态）和扭曲（歪斜态，G表示）存在 侵蚀后，G相对强度增强 聚丙烯表面取向作用 MD:分子轴 铝箔上聚乙烯膜的表面氧化 * 聚苯乙烯的表面光氧化 1730 cm-1 峰的归属？ 氨水处理后移到1660 cm-1 辐照3h 氨水处理 ? ATR测薄膜折射率 样品的折射率的确定：即用不同的入射角测定光谱，从ATR谱上发现?c，再用sin?c=n2/n1 计算出n2. 左图为聚丙烯的ATR谱。由图可见，当入射角由40.0 ℃变为39.6℃时，正常的吸收谱带变为折光指数发散的光谱，谱带的轮廓发生了畸变，因而可判定?c在40.0-39.6℃之间，从而可以算出聚丙烯的折射率为1.517。 ATR谱与透射谱还可用来研究高分子在应力作用下受破坏的程度和机理。 左图为聚乙烯在真空状态下受196MPa应力6h后的红外ATR(实线)及透射(虚线)光谱图。 图中890和910cm-1两条谱带分别属于所示结构的CH2端基震动。这些官能团是聚乙烯受应力后部分链受破坏产生的。比较ATR谱和吸收谱，可以清楚的看出受破坏后产生的烯端基主要集中于聚乙烯膜的表面。 实线:ATR谱 虚线:吸收谱 聚乙烯薄膜受196MPa应力6h后光谱 光声光谱（FTIR-PAS） 不需要表面处理 适合研究深色/黑色样品 根据动镜速度控制采样深度 各种光学速度下测得的表面处理后PET光声光谱 (A) 0.235 cm.s-1, (B) 0.395 cm.s-1 (C) 0.665 cm.s-1, (D) 1.119 cm.s-1 (E) 表面处理剂的光声光谱 风蚀后的PVC光声光谱 测定的光学速度： 0.235 cm.s-1 0.395 cm.s-1 (C) 0.665 cm.s-1 SiO2表面的光声光谱 （A）用氦气作样品的介质 （B）用氙气置换氦气 （C）再用氦气置换氙气 先用难极化氦气作介质，测定了SiO2表面的光声光谱。 再用易极化的氙气置换氦气，得到光声光谱。两个光谱图都显示了SiO2的特征谱带：812和1112 cm-1谱带。(B)中显示了较为强烈的CO的振动谱带，但(B)的3745 cm-1的水的振动吸收较（A）为弱。 若再用氦气置换氙气，几乎与(A)完全一致。氙气为易极化气体，吸附在固体样品表面，使平行于表面的振动跃迁矩的谱带明显增强，而使与表面垂直的振带减弱。从而推导出SiO2表面吸收的水分子及CO分子的排列方式, 见下页图。 SiO2表面吸附H2O/CO排列方向 SiO2表面吸附的水以及C=O的排列方式