精密测量技术课件-第1章4-5节.pptVIP

三、测量方法选用实例 例题2、设有一厚度为1mm的圆弧样板，如图所示。 设计要求样板弓高11mm，R=12 mm，试拟订R的测量方法。 1、初步选定测量方法 基本测量方法： 非接触、间接测量； 测量仪器： 万能工具显微镜； 测量数据： h=10.002mm, s=23.660mm 2、测量结果与测量误差的分析和计算 (1) 确定间接测量的函数关系 (2) 写出R与h、s等参数的误差关系式 (3) 分析测量结果的测量误差 (4) 写出测量结果的表达式 (5) 评定： 精度是否满足要求； 工件是否合格。 上次课内容：7个尺寸的概念，泰勒原则，公差与配合 测量过程四要素 问题： 1、一般来说：实际轴的作用尺寸大于它的最大实体尺寸；实际孔的作用尺寸小于它的最大实体尺寸。对吗？ 2、试举出三个以上基本的测量方法。 3、阿贝原则是几何量测量的基本原则之一 。 4、万工显符合阿贝原则。 5、采用阿贝原则的意义是什么？ 作业：见邮件 自学： §２-１，掌握： 新的米定义，长度基准、标准的概念、分类及量传系统 标准尺 待检尺 艾恩斯特·阿贝-Ernst Abbe (1840/01/23～1905/01/14) 生于爱森纳赫，逝于耶拿，德国物理学家。父亲是纺纱工人,家境贫困,阿贝靠别人资助才得以上中学和大学，于1861年在耶拿大学获得博士学位。1863年在耶拿大学担任数学、物理学和天文学讲师，1876年任教授。1866年与C.蔡司合作研制光学仪器。这一合作有力地促进了德国光学工业的发展。阿贝后来还做了蔡司工厂的负责人。??? 以显微镜为中心，阿贝在光学仪器的光具组理论上，做出了两项重要贡献:一是几何光学的“正弦条件”,确定了可见光波段上显微镜分辨本领的极限，为迄今光学设计的基本依据之一；二是波动光学的显微镜二次衍射成像理论——阿贝成像原理，把物面视为复合的衍射光栅，在相干光照明下，由物面二次衍射成像。A.B.波特1906年从实验证明了这理论。这理论在近年以激光为实验条件的光学变换理论中成为基础理论之一。　在光学元件和仪器方面，他在1867年制成测焦计，1869年制成阿贝折射计及快速测定玻璃色散的分光仪。1870年后,又制成数值孔径计、高度计和比长仪等,1879年与O.肖托合作，研制成可用于整个可见光区的复消色差镜头。　阿贝对天文学有很大兴趣，在他从事光学仪器的研究和设计中也改进了不少天文观察仪器，如棱镜望远镜和立体测远计等。 钻孔侧壁检测仪，孔壁垂直 例６.分析用下面两种方法测量方形角尺垂直度误差的测量原理、特点。 (1)用直角尺比较 (2)用自准直仪自测 光轴与水平线的夹角 3．最小变形原则 （1）最小变形原则：为使测量结果准确可靠， 在测量过程中应使各种原因引起的变形为最小。 （2）变形原因：接触变形、自重变形、热变形。 （3）减少变形的方法 A．接触变形：根据接触体的材料和形状正确选择测量力、接触形式和适当的测量方法。 测力：可依被测件的标准公差、材料来规定其大小。 接触形式：点接触、线接触、面接触。 测量方法：如用相对测量法或两次读数法，以减小或抵消变形的影响。 B．自重变形：大小与零件的支承方式和支承点位置有关。 支承点为： 白塞尔点,l=0.2203L--杆的长度变化最小； 　一般线纹尺测量时采用白塞尔点支承 l= 0.2232L——杆的中间和两端变形（下降）量相等，杆的全长弯曲变形最小。 　测大尺寸的平面度、直线度时采用。 B．自重变形：大小与零件的支承方式和支承点位置有关。 B．自重变形：大小与零件的支承方式和支承点位置有关。 艾利点,l=0.2113L--杆的两端面平行度变化最小。 　测大尺寸量块量时采用艾利点。 C．热变形：等温、避免局部受热 4．最短测量链原则 为了保证一定的测量精度，测量链应最短，这便是测量链最短原则。如:在立式光学计中测量块的变动量. 问题：测量下图工件． １、能不能测？需了解： 工件特性（尺寸、精度、批量等）； 设备条件如何？ 测量环境、效率、成本 ２、怎样测？ ３、测量结果如何？ ４、测量结果应用 二、测量方法的正确选择 （一）测量方法选择的原则 1．基本原则： 　 在满足精度的前提下，选择最经济的方法。 2．测量方法精度的选择原则 (1) 问题：如何分配加工误差和测量误差两部分。 　　　被测工件的公差允许值包括这两部分。误差分配时，如果测量误差占的比重大，则留给工件的加工误差就小，必然要增加加工成本；如果测量误差占的比重小，则留给工件的加工误差就大，必然要用高精度仪器和严格的测量条件，测量的经济性就要差。 (2) 解决： 对于国标规定范围内的光滑工件尺寸的测量检验，应使测量