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TFT检验标准

一、目的 本标准是针对TFT及CSTN模块制定的出货检验标准。用于指导生产线,QA及OQA检验以确保产品品质符合要求。 二、适用范围 适用于对所有TFT及CSTN成品的检验。 三、职责权限 生产部:负责依照本标准对成品TFT及CSTN产品进行功能和外观全检。 品质部:负责本标准的制订与维护,并依照本标准对已完成品进行功能外观抽验。 四、检验要求 1、抽样计划 生产部:外观、功能全数检验; 品质部:外观、功能依照GB2828-87正常抽样标准,一般检验水平II检验; 尺寸检验:每批产品进行5PCS检查 允收水准(AQL): 主要缺陷:0.4 次要缺陷: 1.0 3、检验条件: 温度:25±5℃ 湿度:40%-70%RH 照明度:5000±2000 Lux 4、检验方式: 眼睛距离产品30±5cm;检验视角为眼睛 与玻璃表面构成前后左右45°角进行检查。(如附图) 检验时需戴上静电环及十指戴齐手指套。 检验员目视或以菲林卡、放大镜进行比对检查,某些不良 依限度样品判定。 d、电性测试使用电测机、测试治具、显示画面依客户要求。 e、测试时需使用离子风扇机,撕除保护膜时需轻轻的解除。 5、密集定义: 两点,两线或两缺点之间在不同的水平线。 五、用语定义 1.BROKEN:GLASS上下表面全部破碎。 2. CHIPPING:GLASS表面因物理冲击而失去方向性和进行性而掉离的现象。 3.CRACK:GLASS会继续进行崩裂的破碎现象。 4. F/L : FRONT LIGHT的缩略语,反射型产品的光源。 5. B/L : BACK LIGHT的缩略语,透过型及半透过型产品的光源。 6. COF : CHIP ON FILM的缩略语,是IC CHIP在薄的FILM上的材料 。 7.FPC : FLEXIBLE PRINTED CABLE的缩略语,流动性多的FILM的材料。 8.COG : CHIP ON GLASS的缩略语,驱动IC直接安装在LCD PANEL上的材料 。 9.JIG : 为了TEST TFT LCD产品,安着TFT LCD产品的工具。 10.显示区: 被点亮的区域。 NO 检验项目 适应范围 判定规格 1 panel 表面缺角 X:不限;Y≤0.4mm;Z≤0.5mm X≤2mm;0.4mm<Y≤1.3mm;Z≤0.5mm 缺角 (含内崩) X:不限;Y≤0.4mm;Z≤0.5mm X≤2mm;0.4mm<Y≤1.3mm;Z≤0.5mm PAD缺角 伤及ITO线路 X≤1.8mm;Y≤1/4ITO长;Z≤0.5mm 未伤及ITO线路 X≤3mm;Y≤1.5mm;Z≤0.5mm 表面刮痕 AA区 贴片后:点、线刮痕CF面上目视和电测不可有 AA区外 点、线刮痕忽略不计 PAD区 正面:点、线刮痕不可伤及线路 反面:点、线刮痕忽略不计 裂痕 任何裂痕不可有 Dot形态 AA区 D≤0.1mm忽略不记 0.1mm<D≤0.15mm N≤2 0.15mmD≤0.2mm N≤1 AA区外 D≤0.3mm忽略不计 0.3mmD≤0.5mm N≤1 凸缘:Y≤外型尺寸+0.15mm;X忽略不计 液晶未灌饱不可有 Panel上Dot形态总和N≤3,间距L5mm 2 偏光片 a.无保护膜、缺偏光片、迭片不可有 b.刺伤、刮伤、压伤:AA区不可有,AA区外忽略 c.凸点:AA区D≤0.5mm;AA区外忽略 d.凹点:AA区D≤0.7mm;AA区外忽略 e.偏移:任一侧都不可超出玻璃边缘(需含盖AA区+0.5mm) f.保护膜脏污、指纹、油污、白雾、残胶、破损不可有 g.气泡 AA区 不可有 AA区+0.5mm内 D≤0.25mm N≤2;其余部分忽略不计 h.异物、点、线痕 AA区 D≤0.1mm忽略不记 0.1mm<D≤0.15mm N≤2 0.15mmD≤0.2mm N≤1 W≤0.02mm N不计 0.02mmW≤0.05mm L≤5mm N≤2 AA区外 忽略不计 偏光片上点、线形态总和N≤4, 间距L5mm 3 IC a.缺角:X≤0.2mm;Y≤0.2mm;Z≤1/3T (T为IC厚度) b.任何裂痕不可有 c.脏污不允许 d.刮痕:不可伤及内层 e.对位精度偏移量:X≤1/

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