可靠性环境加速寿命测试介绍经典.pptxVIP

可靠性 環境加速測試方法介紹 報告大綱 加速壽命與應力之間的關係 失效分佈函數與加速模型 激活能的預估與計算 環境壽命試驗介紹 實例計算演示 電子產品的可靠性 電子產品的可靠性 環境壽命試驗介紹 環境試驗 機械環境試驗 綜合環境試驗 氣候環境試驗 所處環境應力：衝擊，振動碰撞，加速，高噪音，疾風 所處環境應力：機械環境和氣候環境相結合的環境因素 所處環境應力：溫濕度，氣體，鹽霧，風雨，壓力，太陽輻射 環境應力與失效之關係摘自Hughes航空公司（美國）技術資料 環境加速壽命介紹 有效的加速試驗： 1選用應力與失效分佈諸參數之間需存在函數關係 2加速應力下產生之失效模式需與一般操作應力下相同 3失效次數需符合已知之統計分佈 4失效現象需能以“失效物理方法”解釋 5加速應力下之測試品需展現與正常或額定應力測試下相同之失效分佈 環境加速說明： 比基準條件嚴酷的條件下，使產品的故障機理大於通常速度，利用同一模式存在與兩者之間的規律性，使其在短時間內再現。即加速試驗的成立是以這些故障機理和故障模式相同為前提，其中必定在為加速和已加速試驗之間存在規律性的結果。 失效分佈函數與加速模型 按失效分佈類型大致可分為正態分佈，對數正態分佈，指數分佈，威布爾分佈等。 指數分佈： 指數分佈是可靠性實踐中最常見的分佈，它的故障密度函數 MTBF，半導體器件的抽驗方案都是採用指數分佈，但是由於指數分佈具有缺乏