材料分析测试方法或研究方法试题及答案10.docVIP

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  • 2018-05-28 发布于江西
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材料分析测试方法或研究方法试题及答案10.doc

材料现代分析方法试题10(参考答案) 一、基本概念题(共10题,每题5分) 1.“一束X射线照射一个原子列(一维晶体),只有镜面反射方向上才有可能产生衍射线”,此种说法是否正确? 答:不正确,因为一束X射线照射一个原子列上,原子列上每个原子受迫都会形成新的X射线源向四周发射与入射光波长一致的新的X射线,只要符合光的干涉三个条件(光程差是波长的整数倍),不同点光源间发出的X射线都可产生干涉和衍射。镜面反射,其光程差为零,是特殊情况。 2.什么叫干涉面?当波长为λ的X射线照射到晶体上发生衍射,相邻两个(hkl)晶面的波程差是多少?相邻两个(HKL)晶面的波程差是多少? 答:晶面间距为d’/n、干涉指数为nh、 nk、 nl的假想晶面称为干涉面。当波长为λ的X射线照射到晶体上发生衍射,相邻两个(hkl)晶面的波程差是nλ,相邻两个(HKL)晶面的波程差是λ。 3.谢乐公式B=kλ/tcosθ中的B、λ、t、θ分别表示什么? 该公式用于粒径大小测定时应注意哪些问题? 答:B为半高宽或峰的积分宽度,λ为入射X射线波长,t为粒径大小,θ为表示选用X射线位置 ①这是运用X射线来测定晶粒大小的一个基本公式。B为衍射峰的宽,t表示晶粒的大小。可见当晶粒变小时,衍射峰产生宽化。一般当晶粒小于10-4cm 时,它的衍射峰就开始宽化。因此式适合于测定晶粒10-5cm ,即100纳米以下晶粒的粒径。因此,它

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