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原子力显微镜用途2篇 以下是网友分享的关于原子力显微镜用途的资料2篇，希望对您有所帮助，就爱阅读感谢您的支持。 第一篇 一、实验目的 a. 学习和了解原子力显微镜的原理和结构。 b. 学习原子力显微镜的操作和调试过程，并以之来观测样品的表面形貌。 二、实验仪器 CSPM5000扫描探针显微镜系统、VCD金属母板 三、实验原理 原子力显微镜是将一个对微弱力极敏感的微悬臂一端固定，另一端有一微小的针尖，针尖与样品的表面轻轻接触，由于针尖尖端原子与样品表面原子间存在极微弱的排斥力（10－8-10－6N），通过扫描时控制这种力的恒定，带有针尖的微悬臂将对应于针尖与样品表面原子间作用力的等位面而在垂直于样品的表面方向起伏运动。利用光学检测法和隧道电流检测法，可以测得微悬臂对应于扫描各点的位置变化，从而可以获得样品的表面形貌的信息。 原子力显微镜的系统是利用微小探针与待测物之间交互作用力，来呈现待测物的表面之物理特性的。所以在原子力显微镜中也利用斥力与吸引力的方式发展出两种主要操作模式：(1)利用原子斥力的变化而产生表面轮廓为接触式原子力显微镜（contact AFM），探针与试片的距离约数个埃。 (2)利用原子吸引力的变化而产生表面轮廓为非接触式原子力显微镜（non-contact AFM），探针与试片的距离约数十到数百埃。 AFM中，样品放置在扫描器上方，扫描器中的压电陶瓷管在外加电压的作用下，可以在X、Y和Z方向上独立运动。SPM探头中的激光器发出激光，照射在探针的尖端背面，经反射后，落在光斑位置检测器上。光斑位置检测器上下 部分的光强差产生了上下部分的电压差，通过测量这个压差，就可以得到光斑位置的变化量。它有两种基本的扫描模式： 1、接触式AFM 在接触模式中，探针的针尖部分保持与样品表面接触。当探针在样品表面扫面时，由于样品表面的原子与微悬臂探针尖端的原子间的相互作用力，微悬臂将随样品表面形貌而弯曲起伏，反射光束也将随之偏移，光斑位置检测器上下部分的电压差值也发生改变。反馈电路测量这个差值，通过改变加在扫描器Z方向上的电压，保持这个差值的恒定，计算机记录这个电压，即反映了样品的表面形貌。接触模式AFM适合检测表面强度较高、结构稳定的样品。 2、轻敲式AFM 在轻敲模式中，用一个外加的振荡信号驱动探针在样品表面上方振动。探针振动的振幅也可以通过光斑位置检测器的上下部分的光强差来确定。当探针未逼近样品时，探针在共振频率附近作自由振动；当探针在样品表面扫描时，由于样品表面的原子与微悬臂探针尖端的原子间的相互作用，探针的振幅减小。反馈电路测量振幅的变化量，通过改变加在扫描器Z方向上的电压，保持探针振幅的恒定，计算机记录这个电压，即反映了样品的表面形貌。 该模式下，扫描成像时针尖对样品进行“敲击”，两者只有瞬间接触，能有效克服接触模式下因针尖的作用力，尤其是横向力引起的样品损伤，适合于柔软或吸附样品的检测，但分辨率比接触模式较低。 由于探针作受迫振动，驱动信号的振幅越大，探针振动的振幅则越大。（图A） 探针自由振动的振幅和参考点之差反映了探针对样品的作用力的大小，所以，在相同的驱动信号振幅的情况下（即探针自由振动的振幅也相同），参考点越小，探针对样品的作用力越大。（图B） 参考点不能设定得比自由振动的振幅大。（图C） 图A 强驱动信号导致大的自由振幅 图B 小的参考点表示作用力越大 图C 错误设定 下面，我们以激光检测原子力显微镜（Atomic Force Microscope Employing Laser Beam Deflection for Force Detection, Laser-AFM）--扫描探针显微镜家族中最常用的一种为例，来详细说明其工作原理: 如上图所示，二极管激光器（Laser Diode）发出的激光束经过光学系统聚焦在微悬臂（Cantilever）背面，并从微悬臂背面反射到由光电二极管构成的光斑位置检测器（Detector）。在样品扫描时，由于样品表面的原子与微悬臂探针尖端的原子间的相互作用力，微悬臂将随样品表面形貌而弯曲起伏，反射光束也将随之偏移，因而，通过光电二极管检测光斑位置的变化，就能获得被测样品表面形貌的信息。 VCD金属母板有预先做好的轨道，当VCD光碟片刻录“数据”时，光碟刻录器发出高功率的激光打在VCD金属母板的预刻轨道内，有机染料层吸收激光在轨道内物理烧出“槽”。烧出的槽与未烧的部位对激光的反射率不同，VCD- ROM 进行读取操作时，就可以利用光的反射来读取“数据”了。 VCD金属母板预刻轨道内的“pits”（槽） 因此利用CSPM5000扫描探针显微镜的两种基本操作模式—接触式和轻敲式便可以得到VCD金属母板的表面形貌。然后利用其自带软件分析工具