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汽车电子产品测试认证研讨会 时间 Time 主题Topics 主讲人 13:45-14:00 签到 / Registration 14:00-14:30 汽车电子标准体系介绍/ Introduction of auto electronics EMC test standard 魏延全 （MORLAB工程师） 14:30-14:35 问与答 / QA 14:35-15:05 汽车电子瞬变传导抗扰度测试解决方案/ the test solution scheme of electrical disturbances from conduction (Road vehicles) 刘文吉 （拓科锐工程师） 15:05-15:10 问与答 / QA 15:10-15:20 休息 / Break Time 15:20-16:20 CISPR25，ISO 11452-2/4标准介绍/ Introduction of CISPR25，ISO 11452-2/4 曹少东 （MORLAB工程师） 16:20-16:25 问与答 / QA 16:25-17:25 E/e Mark 认证介绍/ E/e Mark Certificate 魏延全 （MORLAB工程师） 17:25-17:30 问与答 / QA 公司名称Company 姓名 Name 职务 Title 办公电话 Office Telephone 手机 Mobile Phone 邮箱 E-mail 注：因场地有限，每家企业限3人以内，敬请谅解！请务必清楚填写电邮地址，以便确认报名资料。  附：会场路线图见下页： ＊公交站点名：茶光站、西丽镇站、西丽医院东站 摩尔实验室 诚信 专业 务实 创新——摩尔实验室（深圳市南山区沙河路电子检测大厦三楼，Tel:0755 - 1 - 邀请函/Invitation 摩尔实验室（MORLAB）将于2011年1月14日举办“汽车电子产品测试认证研讨会”。 此次研讨会的内容涵盖了汽车电子产品的测试方案与整改难点等多方面的内容，同时我们还邀请了拓科锐（EM TEST仪器代理商）的专家与您进行交流与讨论，希望藉此平台进行更多的交流与经验分享，帮助广大客户深入了解汽车电子产品的测试与认证要求。 MORLAB sincerely invite you to attend the “Testing and Certification of Auto Electronics Products” seminar which will be held on 14th January, 2011. It will introduce you the latest test solutions, equipments and systems as well as international requirements and regulations related to testing and certificating. With an interactive discussion and technical knowledge sharing with you, we hope it could help you know more detailed information of testing and certification of auto electronics product. 地址及日期/Venue Date DateDate 地址: 深圳市南山区沙河路电子检测大厦摩尔实验室二楼会议厅/ Venue： 2FL,MORLAB Electronic Testing Building, Shahe Road, Xili, Nanshan District, Shenzhen 日期: 2011年1月14日,下午14：00至17：30 / Date: 14th January, 2011 (14:00-17:30PM) 费用：免费/ Free of charge 议程安排/Agenda 公司名称Company 姓名 Name 职务 Title 办公电话 Office Telephone 手机 Mobile Phone 邮箱 E-mail 注：因场地有限，每家企业限3人以内，敬请谅解！请务必清楚填写电邮地址，以便确认报名资料。 Receipt/回执 报名形式/Registration 传真或E-mail报名: 请于1月13日18:00之前填妥