DMP248P中文说明书(湿度仪).docVIP

一：简介 对于露点温度-60℃的湿度测量长期以来只依靠镜面的方法,该方法从原理上讲只要有足够的制冷措施,就能测量任意露点温度。这种方法的最大问题就是对气体要求很高，任何杂质和污染都会导致极大的测量误差。因此它几乎不能在线使用。另一个低湿度的传感器就是氧化铝传感器。它最低可测到（-100℃）露点，但是这类传感器在保护状态下每年也会漂移±6℃—±10℃。因此就不能保证其工作的稳定性。另外以上两种类型仪表，校准也非常困难，这是因为它需要专门的露点发生器。由Vaisala公司发明的高分子薄膜电容具有很高的稳定性和抗污染能力。但长期以来只能用于露点-40℃以上湿度测量，-40℃— -60℃的测量非敏感元件达不到，而是存在着很大的误差。这主要是因为传统的计算方法和校准方法的问题。 Vaisala公司针对以上问题进行了长期研究，利用在线状态下自动修正零点偏移这一行之有效的方法，彻底地解决了低露点测量的精度问题。从而为低湿度测量提供了一种既稳定又精密的方法。 DMP248系列精密露点仪是Vaisala公司推出的专门用于测量低湿露点点的精密仪表，它内含在线自动修正零点偏移这一专利软件，它的探头是由高分子薄膜式湿敏电容和Pt100铂电阻组成的复合敏感元件。DRYCAP和DRYCAP.J高分子湿敏电容C的变化和测量气体的相对湿度（RH）成正比，而Pt100可直接测量气体的温度（T）。由此可分别计算出露点温度（Td），体积浓度比（PPMV）。因此DMP248仪表虽然是精密露点仪，但其校准参数 仍然是相对湿度RH和温度Ｔ。通常情况下两点校准就可以满足其精度了，因为相对湿度RH和湿敏电容的电参数成线性关系。这是其它类型的露点仪无法比拟的。 Vaisala公司的湿敏电容是世界上最稳定的湿敏元件，其自动修正零点偏移软件具有专利保护。它的DMP248系列精密露点仪拥有以上两项技术。它低湿，稳定性具有世界领先水平，该仪表既可在线使用，亦可离线使用。其精度及量程范围特别适合开关SF6气体、氢站H2气体、空分中的N2、CO2等气体的微量水分测量。 二：DMP248测量原理 DMP248系列采用了Vaisala公司自发明的DRYCAP敏感元件，该元件是专门用在低湿环境的温湿度测量并具有极强的抗结露能力。它包含了一个高分子湿敏薄膜电容和热敏电阻。电容值和相对湿度（RH%）成正比。加入温度信号后就可以由DRYCAP元件直接反映出Pw（水汽压）或露点值了，其推导如下： 由温度传感器的Pt-100可以测出气体的温度值T。根据Go-ff-Gratch和Wexler修正公式可求出温度T下的饱和水汽压Pws（T）： log（Pws（T））=（C1T-C2）/（T-C3）（T＞0） （1） 或者 log（Pws（T））= C4-C5/T （T＜0） （2） 又因为：RH=Pw/Pws（T） 所以气体的水汽压Pw为：Pw=RH×Pws 此时由Pw求出露点温度值Td。Td值可以分别由（1）（2）式求出。但在（1）（2）中应将Pws（T）由Pw更换，T由Td更换。 对于0℃以下的低湿露点值当然也可由上述方法直接求出。但是其精度却很难保证，因为相对湿度越接近 于零，其露点精度就越随着零点漂移量的变化而快速下降。由于其零点漂移使得误差就越大，所以为了提高其测量精度必须在测量过程中设法减少其0%RH零点漂移。 例如 ：当露点为-40℃，温度为20℃时，其相对湿度为0.55%RH。偏移量为0.2%RH时（对于一般的RH传感器来说，这要比其技术指标好的多了），使得实际测量的RH变为0.35%了。此时计算得出的露点为-44℃，所以一个看起来较小的偏移量误差（该误差可由偏移或校准失误产生）对于低RH值来说将产生一个不能接受的露点误差。为解决这一精度问题，DMP248系列精密露点仪使用新的专利计算方法，即仪表在在线工作时自动计算偏移量变化并调整这一偏移量，这一过程可由以下公式 来表达： RHout=RHo+Gain×Pw/Pws（T） （3） RHo=完全干状态下的输出 P w=水汽压 Pws(T)=温度T的饱和水汽压 函数Pws（T）很容易求解，所以在同一水汽压（Pw）下测量两个温度T值即两个Pws（T）就可以计算出漂移量RHo值了。 （假定Pw在这一过程中保持不变） 如对于上图其漂移量误差为-0.2%RH，测量温度范围20℃-30℃，其露点温度为-40℃，Gain为100%，随着温度的升高RH%降低，因为前响应是线性的，此时RHo=0.2%。由读出的数值（0.35%RH）减去这一数据,就得到了正确数值为0.55%RH.由两点测量数据划一条直线,该直线和Y轴的交点就是RHo。 下图显示DMP248探头所安装的DRYCAP敏感元件，DRY