OS-CON技术规格说明(中国语).pptVIP

November, 2003 Saga SANYO Industries Co., Ltd. 關於OS-CON產品規格書 OS-CON試驗標準的由來 JIS C 5102 1-1. 漏電流的規定　　　　　 [SEPC系列產品規格書摘要] 5-1-1. 漏電流 加額定電壓2分鐘後的值。在第6項（規格值）以下。 如有疑問，在105C環境下，加電壓120分鐘後測試。 加電壓的數值為使用電壓值。 1-2. 漏電流的自我修復　　　 1-3. 漏電流的測定　　　 測定回路圖 (摘自JIS C 5102 第7.7項 漏電流） 1-4. 電壓處理操作規程 (1)　　　 OS-CON的電壓處理條件為在105C環境下，施加電壓120分鐘。 　　 為簡化電壓處理程序，建議使用電吹風方式，操作規程如下所示。 3. 信賴性試驗 (SEPC系列) 　 3. 信賴性試驗 (SEPC系列) 　 3. 信賴性試驗 (SEPC系列) 　 3. 信賴性試驗 (SEPC系列) 　 4. 紋波電流的測定方法 　 5. 故障率 　 * SANYO Electronic Components Co., Ltd. * 技術規格標準説明 EIAJ RC-2362A 固定鋁TCNQ復合鹽固體電解電容器 EIAJ RC-2460 表面貼裝用鋁固體（導電性高分子）電解電容器 JIS C 5101-4-2 鋁固體電解電容器 評價水準E IEC 60384-4-2 Fixed capacitors for use in electronic equipment Part 4 Blank detail specification OS-CON 產品規格書 EIAJ RC-2362A ＆ RC-2460 JIS C 5101-4 (日本工業規格) IEC 60384-4-2 (INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION) (日本電子機械工業會規格) OS-CON產品規格書上記載的試驗項目是以 日本工業規格( 簡稱 JIS ) 電子I 試驗 C 5102的内容為基準而制定的。 JIS 電子I 試驗 規格是翻譯IEC 68-1 (Environmental Testing of INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION)， 在沒有變更技術内容和規格樣式的基礎上作成的日本工業規格。 電子機器用固定電容器的試驗方法 1-1. 漏電流的規定 1-2. 漏電流的自我修復 1-3. 漏電流的測定 1-4. 電壓處理操作規程 2. 等效串聯電阻 (ESR) 3. 信賴性試驗 (高溫高濕, 耐久性等) 4. 紋波電流的測定 5. 故障率 （*以SEPC系列為例） 主要是對電子機器用固定電容器的各種試驗方法進行了規定。這裡將對產品規格書上所記載部分内容進行説明。 注意事項 OS-CON即使經過出廠前嚴格的特性檢查，但是由於運輸過程中機械震動，或無外加電壓的高溫環境，高溫高濕環境，溫度急變等實驗等，漏電流也有增大的可能。在這種情況下，若在OS-CON的最高使用溫度範圍以下外加電壓，漏電流將會逐漸變小。在接近最高使用溫度環境下越是加以額定電壓以内的高電壓，越會加快漏電流的修復速度。 （請參照右圖） ※導電性高分子OS-CON在製造工程中通常會發生的誘電體損傷。在經過高溫施加電壓處理時，電流會集中到漏電流大的部位(誘電體層的傷痕)，而產生熱量，熱量會使接觸的導電性高分子局部絕緣，遮斷電流，從而使漏電流漸少，修復漏電流。 但是，由於局部絕緣化的導電性高分子，經過機械震動，高溫無外加電壓等環境時，會慢慢轉化為導體(可逆行)，導致漏電流增大。當再次施加電壓時，漏電流又會逐漸漸少。 漏電流修復圖解 S2 Cx DC　Power supply V1 S1 V2 + - Rs + ● ● ● ○ ○ ○ ○ ○ ○ ● I = E/Rs 計算方法；在回路上串聯1kohm的電阻，測量電容兩端的電壓， 測量