ICF大阵列中子能谱仪记录系统-Indico@IHEP.PPTVIP

表1 探测效率及分辨率随晶体厚度的变化 厚度(mm) 5 7.5 10 12.5 15 17.5 20 探测效率（%） 33.78 46.32 56.36 64.56 71.23 77.24 81.06 峰探测效率（%） 20.16 29.36 37.28 44.25 50.22 55.79 58.84 FWHM(X)(mm) 0.74 0.98 1.00 1.51 1.64 2.38 2.95 FWHM(Y)(mm) 0.87 1.01 1.30 1.62 2.20 2.64 2.97 FWHM(Z)(mm) 1.08 1.51 1.64 2.39 2.51 2.87 3.14 图8 空间分辨率随晶体厚度的变化 （1）晶体越厚，探测效率越高。 （2）晶体越厚，分辨率越差。 FWHM：XYDOI。 结论 在单端输出连续DOI测量领域中，这种通过立体角建模的非线性最小二乘法虽然能够得到较高的DOI分辨率，但受到晶体厚度的限制很大，只有在10mm以内的LSO晶体中分辨较好。 使用等厚的晶体，跟双端输出探测器性差距很大（25mm,0.8mmDOI分辨）。 优化方法 1.增加光探测器填充率（减小死区）。 2.加大增益（SiPM）。 3.选用吸收系数、光产额更大的闪烁晶体。 4.优化算法。 *