分析型_扫描电子显微镜_方法通则.docVIP

010 1996分析型 扫描电子显微镜 方法通则 MV_RR_CNJ_0010分析型扫描电子显微镜方法通则 1.分析型扫描电子显微镜方法通则的说明 编号 JY/T010-1996 名称 (中文)分析型扫描电子显微镜方法通则 (英文)Generalrulesforanalyticalscanningelectronmicroscopy 归口单位 国家教育委员会 起草单位 国家教育委员会 主要起草人 林承毅万德锐 批准日期 1997年1月22日 实施日期 1997年4月1日 替代规程号 无 适用范围 本通则适用于各种类型的扫描电子显微镜和X射线能谱仪。 主要技术要求 1.定义 2.方法原理 3.仪器 4.样品 5.分析步骤 6.分析结果表述 是否分级 无 检定周期(年) 附录数目 无 出版单位 科学技术文献出版社 检定用标准物质 相关技术文件 备注 2.分析型扫描电子显微镜方法通则的摘要 本通则适用于各种类型的扫描电子显微镜和X射线能谱仪。 2定义 2.1二次电子secondaryelectron 在入射电子的作用下，从固体样品中出射的，能量小于50eV的电子，通常以SE表示。 2.2背散射电子backscatteredelectron 被固体样品中的原子反射回来的入射电子，包括弹性背散射电子和非弹性背散射电子，通常以BSE表示。它又称为反射电子(ReflectedElectron)