光学元件透过率、反射率光谱分析解决的方案.pdfVIP

光学元件光谱分析解决方案 主讲人：宋金达 Planum-3000平面光学元件光谱分析仪 Planum-3000是一套全波长的光谱分析仪，主要用于快速测量各 类平面光学元件的反射、透射光谱，可进行多角度绝对反射率、 相对反射率、透射率测量，偏振光测量，膜性测量，颜色测量等。 测量对象 • 光学镀膜片 • 平行平板 • 胶合镜 • 太阳膜 • 棱镜 : 免费热线 400-623-2690 wwwwww..oocceeaannooppttiiccsscchhiinnaa..ccnn 相对反射率测量 传统相对反射率测量需要标准样品作参比，磨损或弄脏了都会引起测量误 差，