Q_HXW002-2015智能化低本底多道γ能谱仪.pdf

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2018-12-19 发布于湖南
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武汉西屋科技有限公司企业标准 Q/HXW002-2015 智能化低本底多道γ能谱仪 2016-11-18 发布武汉西屋科技有限公司发布自我承诺我司编写并公开的Q/HXW002-2015《智能化低本底多道γ能谱仪》规定的内容符合国家有关法律法规、强制性标准及相关产业政策的要求，并按照规定程序由企业法人代表批准发布。我司生产的产品符合本标准规定的各项技术要求，标准编号在相应的产品包装上明示。我司对声明公开信息的真实性、准确性、合法性负责，对本标准实施的后果承担全部法律责任。武汉西屋科技有限公司 2016-11-18 Q/HXW002-2015 技术指标1 指标名称：测量核素指标要求：至少能测到：226Ra、232Th、40K 测试方法名称：参照JJG417-2006中7.1.2进行技术指标2 指标名称：本底计数率指标要求： ≤8.0/s（自动处理后) 测试方法名称：参照JJG417-2006中7.1.2进行技术指标3 指标名称：短期稳定性指标要求： 8h内峰位相对漂移不应大于1% 测试方法名称：参照JJG417-2006中7.1.2进行技术指标4 指标名称：能量分辨率(137Cs 661.6keV光峰) 指标要求： ≤9.0% (k=3) 测试方法名称：参照JJG417-2006中7.1.2进行技术指标5 指标名称：测量活度扩展不确定度指标要求： ≤20%（k=3）测试方法名称：参照JJG417-2006中7.1.2进行