ESD(Electrostatic_Discharge)基础知识.pptVIP

* * * * * * * * * * * * ESD（Electrostatic Discharge）基础知识  关于静电放电（ESD）的等级数据 测试等级 接触放电：±2kV、±4kV、±6kV依次测试。 空气放电：±2kV、±4kV、±8kV依次测试。 水平耦合板放电： ±2kV、±4kV、±6kV 垂直耦合板放电： ±2kV、±4kV、±6kV 测试模式 230V/50Hz供电和电池模式 10次，每次放电间隔1秒。 电池供电设备，每次放电后都必须确保电荷的泻放。 环境条件要求 温度：15℃-35 15℃ 相对湿度：30%-60% 大气压：86kPa-106kPa 放电点的选择 放电点的选择 测试set-up 测试set-up 放电电流波形 30A尖峰电流流过CPU部分的地线！ 静电发生器等效电路 人体模型 半导体器件手册给出的ESD保护等级通常基于人体模型。 测试方法 接触放电 可触及部位，如螺钉，金属板 +/-2KV，+/4KV， +/6KV依次测试 尖头 空气放电 不可直接触及部位，如塑料外壳的缝隙、插座孔等 +/-2KV，+/4KV， +/8KV依次测试 圆头 耦合板放电 垂直耦合板（VCP）、水平耦合板（HCP） 模拟对装置附近的物体放电的影响 电池供电设备 每次放电后都必须确保电荷的泻放，如短暂接地或者通过470K泻放电阻。 测试规格 Basic Standard: EN 61000-4-2:2001 Discharge Voltage: Contact Discharge +/-2KV,+/-4kv,+/-6kV (Direct/Indirect) Air Discharge +/-2KV,+/-4kv, +/-8 kV (Direct) ESD与环境 典型案例 按键板前的铁板 一体化参数板的血氧输入 24C××看门狗/复位电路 5000按键板 相关因素 输入接口电路 复位电路 可编程逻辑器件 PCB布板 MOSFET PLL Internal Use Only 有关静电的基本定义(续) 静电感应 静 电 场 带电物体 有关静电的基本定义(续) 日常生活可以感觉得到的静电现象： 闪电 冬天在地毯上行走及接触把手时的触电感 在冬天穿毛衣时所产生的噼啪声 Internal Use Only 这些对我们平常生活没有很大影响，但它对电子元件及电子线路板有很大的冲击。 静电放电(ESD)-ElectroStatic Discharge 在具有不同静电势的两个物体之间的静电转移。 Internal Use Only 有关静电的基本定义(续) 静电敏感器件(ESDS)--ElectroStatic Discharge Susceptibility 日常操作、试验和运输容易遭受静电场或静电放电所损害的分立器件、集成电器或组件. 注：损害包括器件性能的任何降低或不正常。 Internal Use Only 有关静电的基本定义(续) 有关静电的基本定义(续) Internal Use Only 细菌 流行病菌,细菌感染,引起各类疾病 人离不开细菌,各种菌类食物,蔗糖变塑料等 静电 闪电击人,损坏电子元器件 静电复印机,静电除尘,生物效应 MOTOROLA定义的静电敏感器件(ESDS)分类： 0类：0~200V 1类：0 V~1999V 2类：2000V~3999V 3类：4000V~15999V N类：16000V以上，非静电敏感元器件 Internal Use Only 有关静电的基本定义(续) MOTOROLA通信设备选用的敏感器件，其敏感性范围大多数为0类~N类共存混装于印制电路板上，故对其的静电防护必须按 0类 静电敏感器件进行。 静电防护电压应小于200V 有关静电的基本定义(续) 一般现象的静电值： Internal Use Only 静电放电的破坏 Internal Use Only ESD 半导体破坏率的分配： 资料由Semiconductor Reliability提供 (March,1993) 59%都是由静电引致的 静电放电的破坏(续) 静电对集成电路的损伤主要表现为： 芯片内热二次击穿 金属喷镀熔融 介质击穿 表面击穿 体积击穿等 Internal Use Only 最后综合表现为功能故障甚至造成人身伤害。 静电放电的破坏(续) 半导体的损坏形式有两种： 1.灾难性损坏 器件不能操作 约占受静电破坏的原件的百分之十 Internal Use Only 2.潜在性损坏 器件可以操作但性能不稳定，维修次数因而增加 约占受静电破坏原件的百分之九十 防静电方法 1.接地 2.静