材料近代测试与分-第二章-L.pptxVIP

刘成伟 chanliu87@163.com;晶体结构抽象为点阵; CsCl型晶体中A、B是不同原子，若都抽象为点阵点将得到错误的立方体心点阵！这是一种常见的错误：;正确做法：把每一对离子A-B作为结构基元，抽象为点阵点, 得到正确的点阵——立方简单。; NaCl型晶体中，将每一对离子A-B抽象为一个点阵点，即得立方面心。;;主要参考书;材料成分和微观结构分析三层次:;;1、X射线衍射分析（XRD：X-ray diffraction） 　 X射线衍射分析主要用于物相分析和晶体结构的测定，它所获取的所有信息都基于材料的结构。; 2、电子显微镜（EM：electron microscope）　 　电子显微镜是用高能电子束作光源，用磁场作透镜制造的。 电子显微镜: 用来观察物体的形貌。具有高分辨率和高放大倍数的特点。 在观察物体形貌的同时，还能测定物相的结构和微区化学成分。 　;1）透射电子显微镜（TEM）(照片) 透射电子显微镜是一种能够以原子尺度的分辨能力提供物理分析和化学分析所需全部功能的仪器。选区电子衍射技术使微区形貌与微区晶体结构分析结合起来，再配以能谱或波谱可以进行微区成份分析。;透射电子显微镜（TEM）特点： 第一，电子束透过薄膜样品第二，用于观察样品的形态第三，通过电子衍射测定材料的结构，从而 确定材料的物相。 ? ;;2）扫描电子显微镜（SEM）(照片) 　 扫描电子显微镜（SEM）以较高的分辨率和很大的景深清晰地显示粗糙样品的表面形貌，并以多种方式给出微区成份等信息，能用来观察断口表面微观形态，分析研究断裂的原因和机理等。;扫描电子显微镜（SEM）特点： 第一，电子束在样品表面扫描第二，用于观察样品的形貌（具有立体感）第三，通过电子束激发样品的特征X射线获取样品的成分信息。 ;;3）电子探针显微分析（EPMA，electrom probe micro-analysis） 类似于扫描电镜，电子探针是在扫描电镜的基础上配上波谱仪或能谱仪的显微分析仪器，它通过将电子束打在样品表面，激发样品的特征X射线通过波谱仪或能谱仪获取成分信息，进行微区的成分分析。; 电子探针可以对微米数量级侧向和深度范围内的材料微区进行灵敏和精确的化学成分分析，基本上解决了鉴定元素分布不均匀的困难。 　　 电子探针的仪器结构与扫描电镜的结构相似，但它偏重于成分分析。;4）光电子能谱（XPS/AES） 　;XPS 　用X射线作激发源轰击出样品中元素的内层电子，直接测量被轰击出的电子的能量，这能量表现为元素内层电子的结合能Eb。Eb随元素而不同，并且有较高的分辨力，它不仅可以得到原子的第一电离能，而且可以得到从价电子到K层的各级电子电离能，有助于了解离子的几何构型和轨道成键特性，是使用较为广泛的一种表面分析仪。;X射线的物理学基础;主要内容;X射线的发现;X射线管;X射线的产生及X射线谱;产生条件;过程演示;封闭式X射线管实质上就是一个大的真空（ 10-5～10-7 mmHg）二极管。基本组成包括： (1)阴极：阴极是发射电子的地方。 (2)阳极：亦称靶，是使电子突然减速和发射X射线的地方。;(3)窗口：窗口是X射线从阳极靶向外射出的地方。 (4)焦点：焦点是指阳极靶面被电子束轰击的地方，正是从这块面积上发射出X射线。 ;X射线谱;由X射线管发射出来的X射线表现出不同的波谱，因此可分为两种类型： ①连续X射线谱：X射线强度随波长连续变化的部分为连续谱，和白光类似，是多种波长的混合体，也称为白色X射线。 ②特征X射线谱：叠加在连续谱图上面的是强度很高的具有一定波长的X射线，成为特征谱。和单色光类似，也成为单色X射线。 ;　 根据量子理论，当能量为eV的高速电子撞击靶中的原子时，电子失去自己的能量。其中大部分转化为热能，一部分以光子（X射线）的形式幅射出。每撞击一次就产生一个能量为h?的光子，这样光子流即为X射线。 由于单位时间内到达靶表面的电子数量很多，并且它们撞击靶面的时间和条件不尽相同，有的电子还可能与靶面作多次碰撞而逐步转移其能量。因此，各光子的能量各不相同，产生的X射线的波长也就不同，于是形成了连续的X射线谱。　　;短波限;　产生机理： 光阴极发射出的电子，其中少数电子在一次碰撞中就将能量全部转化为光子，因此它产生的光子能量最大，波长最小，即短波限(λ0)。其数值大小取决于能量最大电子，与管压有关。 大多数电子经过多次碰撞，能量逐步地释放，所产生的光子能量