芯片自动测试仪报告.docVIP

芯片自动测试仪 摘要：本芯片自动测试仪采用双CPU设计，可对芯片进行判断、显示，两片AT89S52通过串口通讯，保证了足够的I/O口。分析被测芯片各引脚逻辑关系确定被测器件型号，然后测试器件是否损坏并用液晶显示，本测试仪可检测常见几种74系列逻辑芯片，并可实时显示带不同负载时功耗和检测到的正确芯片个数。本设计特点在可用方便容易操作的PC机键盘通过PS2接口手动输入新器件的逻辑数据表，用以检测未知芯片的好坏，在液晶显示方面也很有特色，采用图形化显示，提供了友好的人机交互界面，让用户对此设计的功能及操作一目了然。 关键词：芯片自动测试仪、双CPU、PC机键盘、PS2接口、图形化显示、人机交互 系统方案设计与论证： 设计要求 制作一种可以自动检测数字电路芯片功能及型号的芯片自动测试仪。测试仪器可以通过分析芯片各引脚的逻辑关系确定出被测器件的型号。在本测试仪器中，芯片逻辑功能数据库存储9种器件功能数据，测试分析的器件型号为：74LS00 、74LS02、74LS04、74LS08、74LS20、74LS138、74LS161、74LS174、74LS573。 1.1.1 基本要求： 1、自动识别器件型号并显示,并测试器件好坏。 2、可以实时显示器件输出不同负载时的器件功耗。 3、所设计电路具有器件保护功能，防止器件损坏。 4、记录工作正常的被测器件个数。 1.1.2 发挥部分： 1、被测器件逻辑功能数据存储于E2PROM中，并可以手动输入新的器件的逻辑数据表。 2、测试响应时间小于1分钟。 1.2 系统基本方案 1.2.1整体方案选择： 方案一：采用FPGA（现场可编程门阵列）来实现。FPGA可以实现各种复杂的逻辑功能，规模大，密度高，集成度高。FPGA采用并行的输入输出方式，提高了系统的处理速度，硬件电路复杂，并且成本高，价格昂贵。 方案二：用两片ATMEL公司的AT89S52单片机，该芯片完全兼容51系列单片机，内有8K FLASH存储器，算术运算功能强，软件编程灵活，功耗小，体积小巧，性价比高，但每片AT89S52只有32个I/O口，本系统采用双CPU解决了这个问题。 方案三：采用单个AT89S52实现，采取I/O口复用，外围器件繁多复杂，加大了制板难度，而且容易引起I/O口驱动电流过小的情况。 方案选定：鉴于本系统对于响应速度的要求并不是很高，若采用FPGA来实现，其高速处理的优势得不到充分的体现，拟订方案二。AT89S52单片机即可通过软件编程实现各种算法，且其技术成熟，成本低，应用广泛，两片单片机工作，通过串口来进行通讯，减轻了单个CPU的负担，提高了系统的工作效率，减少了I/O口复用引起的不便。 整体系统框图如下： 1.2.2键盘部分方案选择： 方案一：采用4*4的矩阵键盘，这种方案硬件连接简单，直接和单片机相连，编程也很简单。但是键盘不多，而且占用过多I/O口。 方案二：使用PC机键盘，通过PS/2接口与单片机相连，输入方便，与单片机连接只需要两个I/O口，但是编程量大。 为了方便于手动输入新的器件的逻辑数据表来检测未知芯片，我们选用方案二。 键盘部分框图如下： 1.2.3显示部分方案选择： 方案一：采用数码管动态扫描显示，原理简单，编程容易，但是占用了大量的单片机I/O口，在数码管过多的情况下，动态显示不光占用过多的单片机运行时间，还会造成时间段分配过多而导致动态显示时数码管闪烁。 方案二：采用键盘、数码显示一体化驱动芯片ZLG7290，它的特点是：与单片机通过I2C总线方式连接，占用单片机的I/O口仅3个；可以同时提供64个按键和8个数码管的驱动能力；可控扫描位，可以控制任意一位数码管的闪烁；无需外接元件即可直接驱动键盘的数码管；提供数据译码和循环，移位，段寻址等。采用ZLG7290作为显示驱动可以简化电路的设计，节省I/O口，提供更为强大的数码管显示功能，而且连接也简单，只是在编程上将使用I2C总线方式，软件编程较一般连接方式的编程复杂。 方案三：采用液晶显示，支持字符、数字和图形的显示模式，轻薄短小、低耗电量、影象稳定不闪烁、可视面积大、画面效果好、分辨率高、抗干扰能力强，功能完善，界面清晰美观。 传统的数码管显示显得单一、枯燥，显示部分选用方案三作最终设计方案，采用图形显示，很形象的显示了芯片型号及是否损坏。 显示部分框图： 1.2.4 芯片检测部分方案选择 方案一：固定GND管脚，检测Vcc管脚，从上往下检测，一旦检测到Vcc脚，芯片就会有电流流过，就可以固定Vcc脚，检测其他管脚。 方案二：固定Vcc脚，检测GND脚，反过来从下往上检测，与方案一的原理相似。 一般的芯片检测都是固定了GND脚，检测其他管脚的，考虑到习惯问题，我们选用方案二,利用三极管导通特性来选择电源端。 1.2.5 测量功耗部分方案选