软磁磁芯高激励下损耗测试技术.docxVIP

大比特资讯 / 软磁磁芯高激励条件下的损耗测量技术 Core Loss Measurement Technology for Soft Magnetic Element under High Exaction 摘要 本文对软磁材料在高激励条件下的交流损耗测量技术进行了探讨，尤其是对超大尺寸的低磁导率金属磁粉芯材料的损耗测试，以及在直流偏置下的磁芯的损耗及BH曲线测试方法进行了介绍。 关键词：软磁磁芯的交流磁性能，损耗，磁滞回线，直流偏置，损耗测试仪 引言 软磁材料高激励条件下呈现非线性使得测量技术成为材料创新和电感设计的关键技术。了解测量系统的性能和理解测量数据的分析有助于功率电子设计人员对软磁材料和磁芯的认识，以及帮助材料研发人员兼顾材料运用考量。先进测量系统的首要要求是自动化测试，排除人为干扰因素；其次是测量过程要快速，避免测量过程中产生自热，间接影响到被测物的温升，从而产生系统误差；其三是准确度，主要体现在同样被测物，同样测量条件，同样绕组条件下测量数据的重复性。 随着直流电网发展趋势，感性元件设计要兼顾直流偏置条件下，磁性参数的测量成为功率电子设计者越来越关心的题目。材料革新来自于功率电感，高功率密度，高效率是推进研发的动力，大电流意味着低导磁率，高效率指的是磁性材料及器件的低损耗。而只有直流偏置条件下的励磁电流才是磁芯损耗的根本原因。