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ＴＨＥＸ－１调试作业指导书 指导调试人员正确、准确的完成THEX-1产品的调试。 一、调试用具 万用表一只 双踪示波器一台40M触发电平应是好的 扫频仪一台 二号线若干15厘米15根，10厘米5根，45厘米5根、三通头一个、双Q9线四根（短的一根，长的三根，高频信号源用仪器配套的）、衰减探头两根，普通探头1根； 小一字一个 无感一根 二、调试准备 面板无划伤、磕碰、变形、色差、面板上字迹清晰。 元器件须贴面焊接，贴面装紧，方向、垫片、集成座及开关通断要与线路板上符号一致，电阻，发光管等要排列整齐高低一致，电阻读数从上到下，从左到右。 PCB板反面焊点均匀光亮无虚焊假焊搭焊漏焊，元器件无损坏变形等现象。 弱电座是否有损坏，弱电座与实验模块是否有不匹配的，屏内接线是否符合要求，屏上用绝缘胶带布的网格线粗细是否一致。 三、调试过程（注意在拔插实验模块时一定要断电，仪器，仪表在不使用时一定要关闭） 实验一：模拟乘法器幅度调制实验　　AM　（实验模块：AM） 调试用具：双踪示波器一台，万用表一个，无感螺丝刀一个，双Q线2根，衰减探头一个。 实验步骤： ⑴先测MC1496静态工作点电压：V1=V4 V6=V12 V8=V10，方可调节电位器RW1即可。 ⑵抑制载波振幅调制J2载波输入5M、40mV J1输入1K、1V。调节RW2，使输出TP4（J3调幅波输出）一定的幅度 ⑶观测输出波形TP4逐渐增大音频信号的幅度 抑制载波振幅调制波如图a（逐渐改变音频输入幅度）,调节RW2可改变输出幅度； 　　　　　　　TP4 有载波振幅调制波如图b，（调节电位器RW1）；调节RW2可改变输出幅度； 　　　　　　　　　　　TP4 实验二：模拟乘法器同步检波实验　AMDEM1　（实验模块：AM、AMDEM1） 实验用具：双踪示波器一台，万用表一个，无感螺丝刀一个，双Q线4根，衰减探头一个，三通头一个。 实验步骤： ⑴测试MC1496静态工作点：V1＝V4、V6＝V12、V8＝V10； ⑵有载波振幅信号的解调fc；在J2载波输入5M、40mV，调幅波输入和TP1（J1）（由AM的TP4有载波输出给其输入） 　　　　 TP1 　　　　　　　TP3 ⑶抑制载波振幅信号的解调调幅波输入TP1（J1）（由AM的TP4抑制载波输出给其输入） TP1 　　　　　　　　　　TP3 实验三：晶体二极管检波实验　AMDEM2　（实验模块AMDEM2） 实验用具：双踪示波器一台，无感螺丝刀一个，双Q线1根，衰减探头2个。 实验步骤： ⑴从J1输入455KHZ调幅波（调制度≤30%，100mVP-P）高频信号源选择调幅波、调制波、内调制，短接K12－3、 K21－2、K32－3、 K42－3调节中周T1104至TP2调幅波幅度最大。（然后再略为减小一些以防自激）在TP3和TP4处观察正常输出波形与调制信号进行双踪比较。 调制信号： TP3： ⑵观察隋性失真波形：保持调幅波输入，短接K22-3，直流负载由3.3K变为100K，可观TP4隋性失真如下图：（加大高频信号源输出） 　　　　　　　　　　　TP4 ⑶观察负峰切割失真：调制度改为50%，高频信号源用外调制，短接K21-2，K41-2检波交流负载由22K变为390Ω观测TP4负峰切割失真如下图（加大高频信号源输出） 　　　　　　　　　TP4 实验四：时钟与三级伪码发生实验 CLK（实验模块CLK） 实验用具：双踪示波器一台，衰减探头2个，二号线一根。 用示波器观测到的波形如下： 实验五：卷积码编码、译码实验　CON （实验模块CON） 实验用具：双踪示波器一台，衰减探头2个。 CDIN/CODE＿OUT1为输入信号 CDOUT/CODE＿OUT2为监督码信号 CODE＿OUT为译码输出波形同CDIN/CODE＿OUT1 以上方可根据信码输入和译码输出指示灯直接观察， 观察经过译码器后，该码的纠错能力。 1．16个选择开关为误码输入，对应的指示灯亮为高表明输入误码，若信道加入1个或2个误码，译码显示电路与信码显示电路一致，则表示该码能纠正2个以下的错误。 2．若信道加入3个或3个以上误码，译码器显示电路与信码显示电路不一致，则表示错误码元已超过该码纠错能力，译码电路将产生乱纠现象。 3．若信道先加入3个或3个以上误码，再将误码数减至2个错误时，请按下CLR复位信号，译码显示电路应与信码显示电路一致。 实验六：CVSD增量调制编码实验　CVSD1　（实验模块CLK、CVSD1） 实验用具：双踪示波器一台，衰减探头2个，双Q9线一根，二号线3根。 TP1（J1）：音频信号800 HZ，2V。J4；32KHZ 时钟对应的波形如下： 　　　　　 实验七：CVSD增量调制译码实验　CVSD2　（实验模块CLK、CVS