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DM 1240型X荧光硫钙铁分析仪 使用注意事项 (1) 仪器开机后30分钟内不得进行测量等工作，复位后5分钟内不得进行含量测量工作。 (2) 仪器应放置在避尘、避酸碱烟雾环境下使用。因水泥厂粉尘飞扬较甚，建议安装空调后尽量少开门窗。 (3) 如仪器在生料磨附近使用，地面的震颤会影响仪器的精度，建议在仪器下先垫木板再垫厚海绵，既可避震，又不影响仪器散热。 (4) 仪器内部有被测样时严禁搬运，以免样品钢环在内部滚动引发短路事故。 (5) 仪器长期不用，应该放在干燥清洁处，以防湿气腐蚀。 (6) 较长时间不分析样品，应该关掉仪器电源，一般情况下不必关机。 含量测量原理简述 样品受激发光源照射产生硫钙铁三元素的特征X射线(即X荧光)，经探测器收集和在电子学系统支持下，变换成电脉冲，经分离后由硫钙铁三个通道分别加以记录。 含量测量原理简述 以钙通道为例，当认为激发光源的强度不变时，样品中钙原子数量越多，则产生的X荧光的几率就越大，钙通道在单位时间内的计数(即计数率)就越大，因此钙道计数率直接正比于样品单位体积内钙原子的数量，即钙原子的浓度，当样品中仅有一种含钙原子的化合物时，可依据钙原子的浓度推断出该化合物的百分含量。 含量测量原理简述 为了消除仪器自身和源于环境的不稳定因素，本仪器采用了元素荧光的相对比较测量法。相对比较的参照物是一块具有物理及化学性质长期稳定性的硬质样品，它在相同的仪器测量条件下硫钙铁二通道均能得到同被测样品相近的计数率。 含量测量原理简述 综上所述，含量与计数率成线性关系，且应用相对比较测量法，得出含量计算式为： [4-0] 式中，K和b是由标定(具体见4.15)确定的常数，N样和N硬分别是被测样品和硬质样品的计数或计数率。 样品的压片 一、样品压片 （1）压制样品时，先将钢环置于压模垫块上，注意台阶低头向下。再在钢环上套上套圈，称11克±0.5克粉末倒入套圈内，用搅器将粉末刮平。最后将压模杆放入套圈使其自由下落。再用手扶住套圈转动一下压模杆，使样品充填更加均匀。注意在粉末倒入后，钢环在垫块上不允许再有移动。 （2）将装样完毕的压模，小心移到压片机工作台上，要求在目视中心位置，搬动手柄（逆时针方向）至水平位置，保压5-10秒即可，缓慢搬动手柄（顺时针方向）至起始位置（切不可在到起始位置前松手，以免手柄弹出）。 （3）取出压模后，用一手按住套圈，另一只手转动一下压模杆，使压模端面和样品背面脱离粘连。然后带样品钢环即可轻松自如地脱离压模。用洗耳球吹去二面浮尘，将带样的钢环反过来（台阶低头向上），此向上面即为样品被测面。可用笔尖在被测面背后写上编号防止搞错。 注意下列情况： （1）滑板只能处于[测硬质样品位置]或[测样品位置]，即拉到底或推到底，不能处于其它任何中间位置，处于其它位置仪器将报警并不能正常工作。 （2）仪器在不测量或不标定时请尽量将滑板拉出到底，处于[硬质样品位置]。 * * （4）仪器经标定后投入使用时，压制生产检测样的方法同上。要求压成样不突出钢环端面，被测面和背面不允许有裂纹。除了应正确操作外，样品水份少、细度粗是引起裂纹的两个原因。以增加样粉与钢环的结合面积防裂，可将压力降低防裂（用SH-3型压力机即为减少粉末称样重量）可先降0.1g样，试压5次，还有裂的再降0.5g试压5次，直到不裂时将此压力确定为生产样压片压力。因此发生的标定样和生产样压制力不一致可能引起测量的系统偏差可修正b值消除。在压样不裂的前提下，我们希望压力高一些，这有助于克服样品基体变化对测量准确性的影响。