STS2107C模拟器件测试系统-北京华峰测控技术有限公司.DOCVIP

STS 2107C 模拟器件测试系统 北京华峰测控技术有限公司 孙 铣 段宁远 摘要 本文介绍了STS 2107C模拟器件测试系统对各类模拟器件进行测试的主要测试参数、测试范围和精确度，介绍了系统和各器件测试模块的特点，并对模拟测试系统的性能评价提出看法。 关键词 测试、精度、稳定性、适应性。 一．模拟器件测试概述 模拟器件是半导体集成电路中的重要组成部分，虽然近年来随着系统、整机的数字化进程，使数字电路和数模混合电路有了更快的发展，相比之下模拟器件则显得相对较为传统。但那些精典的模拟器件（例如运放、比较器、采保、电压基准、时基电路等等），虽己被应用多年，却依然在各种系统和整机中起着至关重要和难以替代的作用，显示出很强的生命力。 在测试方面，模拟器件不需要像数字器件那样用测试向量去验证复杂的数字逻辑，但由于其具有比数字器件更为精密的特性和需要搭接更为复杂的测试线路，很多测试参数信号又极为微弱，因此对模拟器件测试系统的测试精度、分辨力、稳定性、适应性和抗干扰等多方面提出了更高的要求。 二．STS 2107C 模拟器件测试系统概况 为适应各种高性能模拟器件的测试，华峰公司研制、生产了 STS 2107C 模拟器件测试系统。该系统采用模块化结构，通过更换测试模块，可完成对各种类别模拟器件的参数测试。各测试模块对应的测试器件类别和典型测试品种见表1。目前公司还在不断地开发新的测试模块、测试适配器及相应测试软件，以适应更多模拟器件种类和品种的测试。 表1 STS 2107C模拟器件测试系统主要测试模块、器件测试类别及典型测试品种 模块型号 测试器件类别 典型测试品种 BX 1071A 运算放大器 200余种 电压比较器 20余种 BX 1072A 采样保持器 LF198 / 298 / 398 电压跟随器 LM110 / 210 / 310 BX 1073A 精密电压基准 AD581、AD584、AD586、AD1403/1503、LM336 BX 1074A 时基电路 LM555、LM556 BX 1075A 电压基准（并联） TL431 BX 1076A 达林顿晶体管矩阵 MC1411、MC1412、MC1413、MC1416 三．运算放大器、电压比较器的测试 运算放大器和电压比较器是模拟器件中最精典、应用最广泛，也是品种最多的类别之一。BX 1071A运算放大器电压比较器测试模块配合 STS 2107C 主机可完成各种类单、双、四运算放大器和单、双、四电压比较器的参数测试。 1．运算放大器和电压比较器的测试原理 国家标准 GB 3442-86 和 GB 6798-86 参照国外标准，规定了运算放大器和电压比较器的测试方法的基本原理，其主要参数的基本测量线路见图1。STS 2107C系统可完成的运算放大器和电压比较器主要测试参数如表2。 图中 DUT 为被测运放，A 为辅助运放。两级运放构成负反馈闭环系统，其闭环增益由输入电阻 RI和反馈电阻 RF 的比例决定。为了得到足够增益，通常选用 500 倍或 1000 倍。器件测试程控电源 V+ 和 V- 分别向被测运放提供所需的正、负电源电压，被测运放的输出端电压可由外接偏置电压源 V 通过电阻 R1 和 R2 进行控制，以获得测试所需的 VO 值。辅助运放的输出端可测得所需的 VE 值。电阻 RS 用于被测运放输入偏置电流的采样。 上述原理几乎被当今所有的测试系统所采用，但各个测试系统在实际进行器件测试所表现出的精度、稳定性和测试适应性却千差万别。运算放大器的测试难点主要体现在对高阻抗、低失调器件的测试，以及测试系统对被测器件的适应能力。这也是评价运算放大器测试系统水平的几个主要方面。 表2 STS 2107C系统运算放大器电压比较器主要测试参数表 序号 符号 英文参数名称 中文参数名称 测量范围 精确度 1 VOS Input Offset Voltage 输入失调电压 0 – 20 mV 0 – 10 mV 0 – 4 mV 0 – 2 mV 100 uV 50 uV 10 uV 5 uV 2 IB+ Input Bias Current 输入偏置电流（同相） 0 – 8 uA 0 – 4 uA 0 – 400 nA 0 – 40 nA 0 – 4 nA 20 nA 10 nA 1 nA 100 pA 10 pA 3 IB- Input Bias Current 输入偏置电流（反相） 4 IB Input Bias Current 输入偏置电流（平均） 5 IOS Input Offset Current 输入失调