mwe-zwqm001 光源类成品-单端荧光灯查验作业指引书.docVIP

MICROWAVE AND ELECTRICAL APPLIANCES DIVISION照明项目部综合管理体系文件文件编码：MWE-ZWQM001版 本 号：A/0光源类成品检验作业指导书PAGE PAGE 2单端荧光灯检验作业指导书起 草 部 门：审 核/日 期：审 批/日 期：修 订 状 态修改码修改理由/内容修改/日期审批/日期 文件编码:MWE-ZWQM001 版本号:A/0适用范围:本检验基准书适用于照明项目部光源类成品-单端荧光灯的检验，主要是OEM厂家提交验收的产品，包括外观检验与功能检验两部分内容,由技术品质组负责维护本指导书内容。相关的记录 MWE-ZRQM004光源产品检验单抽样方案外观抽样方案表检验项目抽样频率批量范围(只)样本大小(n)正常检查一次抽样一般检查II一类AQL=0不合格判定数二类 AQL=0.4不合格判定数三类AQL=1.5不合格判定数四类AQL=2.5不合格判定数检验工具/设备外观质量通电试验每批1*34视检点灯台高频检漏仪每批501~1200801125,2*46每批1201~32001251268每批3201~1000020013811每批10001~35000315141115每批35001~150000500161522备注：每批的定义为某天某供应商某规格到货总数。如果样本量等于或超过批量，则执行100%检验当缺陷数达到一类缺陷批次量时则拒收、达到二类、三类、四类缺陷数时原则上按拒收处理，具体处理意见及解决方案视具体情况进行。 特殊检验项目抽样计划2.1 标志、外观尺寸检验项目抽样频率批量范围(只)样本大小(n)正常检查一次抽样特殊检查S-3不合格判定数(Re)AQL=2.5检验工具/设备标志灯尺寸（见技术规格书）灯头尺寸每批≤50051游标卡尺量规湿布/目视每批501~ 1200202每批1201~3200202每批3201批10001批35001~150000323每批150001~500000323每批≥5000015042.2 结构检验项目抽样频率批量范围(只)样本大小(n)正常检查一次抽样特殊检查S-3不合格判定数(Re)AQL=2.5检验工具/设备灯头插脚连接灯头连接键组装与结构每批用表拉力计目视每批35001~500000201每批≥5000005023 其他试验检验项目抽样频率批量范围(只)样本大小(n)不合格判定数(Re)检验工具/设备绝缘电阻介电强度每月一次502兆欧表耐压测试仪初始光电参数(100h)每批51积分球光衰测试寿命测试每月一次51积分球寿命试验设备备注：其他本标准中未提及的型式试验项目按委托试验单位指定频率及数量抽样送检。外观缺陷分类缺陷等级示例图片缺陷描述检验工具/设备一类引线外露。目测导线接触灯头。(只针对金属灯头，该缺陷目视不能发现，不能达到IEC61199规定的绝缘电阻时)绝缘电阻测试仪导线未剪超过7mm游标卡尺碰线，并引起短路目测 品牌错（灯或包装上）目测 带电部分裸露手指可接触到。目测注水银过量（超过额定的5倍）。目测二类包装及标签上条形码缺失、错误或模糊。目测少灯目测灯不亮。目测充气太多或太少。目测和高频检测涂层变色。（不点灯时可发现。）目测黑灯。目测色差。目测保护膜或粉层完全没有。目测松玻璃管(玻璃管与塑壳之间的径向拉力3Nm,或轴向拉力40N) 拉力仪松塑壳(上下壳之间的径向拉力3Nm,或轴向拉力40N) 拉力仪订单号码或产品编码错漏目测混色温目测灯头严重损坏(灯已经不可再使用)。目测灯头变形(放不进量规)量规检查无汞 目测混灯头。目测歪头。（大于1.8度） 目测灯管内有异物。(比如TiH2,玻璃或金属物，并损坏了粉层)目测 无印。目测灯印可擦除。（参照IEC61199，用湿布擦拭15秒）目测灯印、包装及标签上强制要求的参数缺失。（相关法规要求的参数）目测坏电容万用表标签错误或缺失。目测混规格（灯上参数与包装不符合，如果品牌错误，则为1类缺陷）目测包装严重损坏。目测坏跳泡万用表管身部位裂穿目测和高频检测弯头部位裂穿目测和高频检测封口部位裂穿目测和高频检测对接部位裂穿目测和高频检测 烧尖部位裂穿目测和高频检测烧尖漏气目测和高频检测导丝漏气目测和高频检测夹丝处断丝目测和万用表灯丝中间断目测双灯丝目测导丝没穿过铜针或压针处没有压到导线目测和万用表铜针脱落 目测压铜针缺陷（如铜针冲压太浅1.6mm或太深1.4mm、压扁等）。目测未压铜针, 铜针未倒角。 目测压铜线夹缺陷(如铜线夹没有夹住导线等)。目测 铜针氧化。目测 铜针变形(放不进量规)Pin 量规检查用错