16 光学(单元测试4).ppt

111 * 单元测试一 （热学） 大学物理规范作业 总（16） 单元测试（光学） 一、填空题 1.在半导体元件生产中，为测定硅(Si)片上SiO2薄膜的厚度，将该膜一端削成劈尖，如图。已知Si的折射率是3.42，SiO2折射率是1.46，用波长λ=598 nm的单色平行光垂直照射，则SiO2劈尖边缘（棱边，图中O处）出现的是 条纹。若观测到劈尖薄膜上出现7条暗纹，则SiO2薄膜厚度是 。 明 1331.16(nm) 分析：相邻两明条纹的厚度差为 2.光栅衍射中,若a+b=3a=8μm,当用λ=700nm的光垂直照射光栅时,则单缝衍射中央明纹区中出现的主极大条数为 条、衍射明纹的最高级为 级、实际能看到的总条数为 条。 5 17 11 分析： 单缝衍射中央明纹区为第一级衍射暗纹间的区域。 根单缝衍射暗纹条件 第一级暗纹中心所对应的衍射角满足： 所以在第一级暗纹中心的位置上为第3级主极大。 但因为缺级现象，在该区域内共看到共5条： 由 令 可得： 即极大最高级数为11。 又因为缺级现象，实际看到的明纹的总条数为17条，它们分别为： 解:(1)由于气体的折射率大于空气，所以通过S1缝的光程变大，因此条纹会上移 （2）条纹移动一条即光通过两缝的光程差多一个波长。 3.图为利用双