光电检测技术及系统真题集.pdf

  1. 1、本文档共14页,可阅读全部内容。
  2. 2、原创力文档(book118)网站文档一经付费(服务费),不意味着购买了该文档的版权,仅供个人/单位学习、研究之用,不得用于商业用途,未经授权,严禁复制、发行、汇编、翻译或者网络传播等,侵权必究。
  3. 3、本站所有内容均由合作方或网友上传,本站不对文档的完整性、权威性及其观点立场正确性做任何保证或承诺!文档内容仅供研究参考,付费前请自行鉴别。如您付费,意味着您自己接受本站规则且自行承担风险,本站不退款、不进行额外附加服务;查看《如何避免下载的几个坑》。如果您已付费下载过本站文档,您可以点击 这里二次下载
  4. 4、如文档侵犯商业秘密、侵犯著作权、侵犯人身权等,请点击“版权申诉”(推荐),也可以打举报电话:400-050-0827(电话支持时间:9:00-18:30)。
查看更多
光电检测技术及系统习题集 一、 本课程在教学课程体系的地位 本课程研究整个系统,强调光电检测的技术。光电检测技术很活跃,许多内容都是从 照明系统 被测物 光学系统 光源 CCD A/D 反馈系统 图 1 光电检测系统的组成示意图 科研课题中提取出来的。 二、 何谓抽样定理?结合抽样过程的原理图,推导出利用光列阵来测量频谱的数学表达式。 给出物函数的空间为[-L/2,L/2] ,光电器件的最佳点阵间隔,举出一个应用实例。 三、 像传感检测技术是利用物体的二维或三维信息的光强分布来检测物体的形状、尺寸与 位置是图象检测技术中最简单而直观的方法。 四、 信息与图像检测不仅适用于可见光,而且更适用于 X 射线、紫外线、红外线、放射线、 超声波以及微波,从而使光电检测技术的应用和方法进入到一个更高的水平。 五、 信息与图像检测的主要用途是: (1) 利用二维光传感器,直接测定物体的形状、尺寸、位置。这是在生产线上实 现自动检测的有效手段。 (2 ) 利用扫描技术进行图像微细结构的测定。例如,对显微镜图像,X 射线图像, 超声波图像,电子显微镜图像的测定。用于粒度分布、温度分布、光度分布 的测定,以及尺寸、位置、面积的测定。 (3 ) 利用光学傅立叶变换,把物体的空间域变换成频率域,用滤波与相关的方法 抽取图像中光电检测所需的特定信息,从而判定被测表面的状态、尺寸以及 位置变化。例如,检查大规模集成块的缺陷,力学中应变分布测定等。 (4 ) 利用电视,固体摄像器件(如CCD 等)与计算机技术结合,进行光学条纹的 自动判读与显示。这适合于各种干涉条纹、莫尔条纹、散斑条纹的自动测量与实时显示, 精度可达到λ/20~ λ/100 。是目前获得效率最高,精度最高,显示最直观的测量方法。 六、 图 2 是最简单的像传感器检测原理图。用于按产品尺寸进行自动分类。试指明此光传 感器能检测产品那几个尺寸?像传感检测技术的特点是: (1) 非接触——是利用物体的二维或三维光信息来实现检测,完全是非接触测 量,测量力为零。特别适合于橡胶、塑料等软工件的测量。 (2 ) 高效率——可快速测定高速移动的工件,这是人眼测量无法办到的。光传感 -7 -9 器的响应速度已能达到 10 ~10 s,例如,对外径为20mm 的工件,1s 可测定 4 个。 (3 ) 输入能量小——在微光下可以工作,也就是一般光传感器有很高的灵敏度。 (4 ) 数据处理功能强——有可能直接与计算机组合来进行光电检测。 1 图2 像传感器检测原理图 七、 线性光列阵基本形式是什么? 线性光列阵有两种基本形式,示于图 3 。图中a )是成像型,b )是照明型。对成像型来说, 被测尺寸长为 Lx ,通过物镜成放大像于光列阵上,设 Qx 是暗电平的个数,即光列阵上不计 数的列阵数,对二极管列阵就是无讯号输出的光电二极管的个数。Qx 是光列阵上光电二极管 的总数。M 是光电二极管之间的间距(通常 p=30 μm )则有: 线性 图3 线性光阵列检测两种基本形式 MLx=Qxp 即 QX Lx = P (7-1)

文档评论(0)

xina171127 + 关注
实名认证
内容提供者

该用户很懒,什么也没介绍

1亿VIP精品文档

相关文档