代挑战的测试技术北方交通大学王化深译卢淦校第一部分.pdfVIP

迎接 90年代挑 战的测试技术 北方交通大学 王化深 译 卢淦 校 f：作出 努力 尽管有大量的引脚，但在一块集成芯 第一部分 ：测试革命 片中的太部分节点是无_=击探删的 如果把一些芯片封 20世纪 9o年代 的测试将发生 巨大 的政变井产生 装在 一起 ，安将在 电路扳 }：—— 尤其是歧庄双 面板 有广泛和深远的影响 本文分两大部分，第一部分论 l、这 -问题就 更难以解决 在 脚『间距 小于0．05 述 了90年代的{III试技术挑战 (F一个 卜年要遵 循的 英寸 片与片的间距小 T-O．1英 寸时，探头的设计和 规剐 ：可测性的设计 )、井探讨 实现可删性 设计 龇试点的可选性 问题将使^更加头痛。 (DFT)的现状 (致力于DFT的队伍 趋惊 人地壮 大 )．本 文还1登载 了两位1：业领导^的部分论 点： Texa$仪器公司的 WalleyRhines描述 r半导体家族