物体表面形貌地纳米级观测.docxVIP

PAGE \* MERGEFORMAT - 7 - 物体表面形貌的纳米级观测 1986 年第一台原子力显微镜(atomic force microscope，简称 AFM)诞生。原子力显微镜利用微悬臂感受并放大悬臂上尖细探针与受测样品原子之间的作用力，从而达到检测目的，具有原子级的分辨率。利用AFM不需要对样品进行前期处理,在大气条件下可以测到样品表面的三维形貌图，并可对扫描所得到的三维形貌图象进行粗糙度、高度、颗粒度的计算和分析。在电化学、生物医学、材料科学等领域，AFM是必备的测试仪器。 本实验用原子力显微镜观察和测量样品表面的纳米级微观形貌，样名可选名片纸、DVD光盘、玻璃、光栅、金属片、半导体片和生物体表层等。 【实验目的】 （1）了解原子力显微镜的基本结构和基本工作原理。 （2）了解原子力显微镜的光路调节原理和方法。 （3）熟悉用原子力显微镜进行表面观测的方法。 （4）掌握仔细阅读显微镜使用说明书并进行正确操作的方法。 【实验原理】 1．原子力显微镜的工作原理 原子力显微镜（AFM）是继扫描隧道显微镜(STM)之后发明的一种具有纳米级高分辨率的新型仪器，它可以在大气和液体环境下探测样品表面的三维形貌图，是国际上近年发展起来的表面分析仪器，是综合运用光电子技术、激光技术、微弱信号检测技术、精密机械设计和加工技术、自动控制技术、数字信号处理技术、应用光学技术、计算