光纤技术 第四章光纤色散测量.ppt

相位法特点： 要求的测试设备较简单，且正弦信号可采用窄带滤波放大，有利于提高信噪比，测量准确度高，因此已被广泛应用。 相移法可采用一组发光二极管作光源，也可采用一组激光器作光源。 频域法 设正弦调制信号的频率为f，被测光纤长度为L，输入信号的波长分别为l1， l2 ，…， li(i＝1，2，…)为了测量方便，设一个参考光波长为lr，则对于输入不同波长的信号经过光纤传输后产生的相移差是相对于参考波长而言。设li和lr间经光纤传输后的时延差为Dti,相移差为Dfi,通过测量得到Dfi 。 测量原理 所以 因为 频域法 进而由s(l)=dt/dl求得该光纤的色散系数s t=A+B l-4+C l-3+D l-2+E l4 这样，通过测量不同波长li 的Dfi ，由上式计算出一组ti— li值，然后进行多项式曲线拟合，得出t(l)曲线。 * * * * * * * l t 频域法 （1）发光二极管（LED）型测量系统 图是采用一组发光二极管作光源的测量系统 矢量电压表是能同时测量信号幅度和相位的测量仪器 相移法测量系统框图 单色仪 信号发生器 LED 探测器(APD)的波长响应要同光源相匹配，这里选用Ge—APD。为了防止不同光功率在探测器中引起的相移，利用可变衰减器使各波长下探测器接收到的光功率大致相等。 矢量电压表的分辨率一般是?0.1o,由它测出不同波长下正弦信号的相对相位差。 当调制频率f为30 MHz时，该系统的分辨率约为9ps；当 f为100 MHz时，约为3ps。 发光二权管由频率f＝30 MHz的正弦信号进行调制。宽光谱的调制光直接经尾纤耦合进待测单模光纤(也可经透镜耦合)。出射光由单色仪分出Dl=6nm，中心波长为li单色光再经透镜会聚到探测器的光敏面。探测器将接收到的光信号转换为电信号，经放大器放大后送到矢量电压表。参考信号取自信号发生器，矢量电压去测得的fi(l)数据送入计算机。利用式(4—33)拟合这些数据得出曲线。由式(4—34)可得到s(l)曲线。通过色散系数s(l)曲线可确定零色散波长。 测量过程 相对时延与被长的关系和相应的色散系数曲线 L=1360m 2、激光器型测量系统 激光器型装置的特点是用一组半导体激光器作为光源。激光器的谱宽很小，一般小于6nm，因此，不需要单色仪选取波长。其测量原理和数据处理方法完全与发光二极管型相同。 （2）激光器型相移法测量系统图 2、模间色散测量 通过连续改变调制信号的频率并测定光纤输入和输出的信号幅度，可以得到光纤的频率响应，对光电探测器输出的电信号进行测量时，通常使用频谱分析仪或矢量电压表。频谱分析仪可测量光纤基带响应的幅频特性，矢量电压表可同时测量光纤基带响应的幅频和相频特性。 切断法光纤带宽扫频测试系统 图4－17 并与第二步的长光纤扫频测量结果相减。其差值由寄存器输出，并由x—y函数记录仪绘出基带频响的幅频曲线。幅频曲线的－6dB(电带宽)点对应的频率为测得的光纤带宽B。 测量步骤： 第一、用一段短光纤连接E／O与O／E， 以便调节发射功率使接收设备工作在线性范围内。 第二、接入被测光纤并进行同步扫频测量。扫频范围应超过被测光纤的带宽。频谱仪测量的结果以分贝数存储在寄存器中。 第三、保持注入条件不变，在距注入端约2米处截断光纤，并对此短光纤进行同样的扫频测量。频谱分析的结果送入寄存器， 光纤频率传递函数 H(f) 带宽和色散的关系 Dt的单位ps 插入法光纤带宽扫频测试系统 时域法和频域法的比较 时间延迟脉冲展宽 测光纤的基带响应 极窄的脉冲 可调信号源 （1）时域法测光纤色散是观察脉冲光信号通过光纤后的时间延迟或脉冲展宽。频域法是使用不同频率的正弦波调制光信号．测得光纤的基带响应。 （2）时域法要求产生和探测极窄的脉冲，而频域法需要一个从低频到高频的可调信号源用以驱动激光器或发光管。 （3）在测量准确度方面，频域法优于时域法。在实际测量中，由于输入脉冲本身或光输出探测器等原因，检测到的脉冲不可能很窄。因此，如用频域法来测量，只要根据H (w)＝Po(w)／ Pi(w),测量在光纤输入端和输出端的频率响应，并求它们的商，就可以得到光纤的基带响应的幅值。 时域法和频域法的比较 1、光纤损耗的测量是测量光波沿光纤传输时，每公里光功率的衰减减情况。测量方法有截断法、插入法和后向散射法。 对于单模光纤与多模光纤来说．测量时的注入系统是不同的．单模光纤需要滤模器．当光纤的涂敷层折射率低于包层的折射率时．还需要包层模剥除器．多模光纤除需上述器件外，还需扰模器。 2、光纤色散的测量是测量光纤对信号展宽的程度。 多模光纤中模式色散起主要作用，且色散程度较大。通过测量多模光纤的带宽或脉冲展宽来测量多模光纤的色