5微波频率下超导体表面电阻随功率的变化测试步骤.DOCVIP

《电子学特性测量 微波频率下超导体表面电阻随功率的变化》 测试报告 前言 微波频率下超导体表面电阻是超导薄膜的重要特征参数。为了统一和规范国内表面电阻随外加输入功率的变化的测量，建立与国际标准IEC 61788-16:《Superconductivity - Part 16: Electronic characteristic measurements – Power-dependent surface resistance of superconductors at microwave frequencies》基本一致的国家标准，全国超导标准化技术委员会（SAC/TC265）组织南开大学编制《电子学特性测量 微波频率下超导体表面电阻随功率的变化》国家标准。根据SAC/TC265的要求，使用翻译法等同采用国际标准。为此，南开大学在编制《电子学特性测量 微波频率下超导体表面电阻随功率的变化》标准的基础上，建立了该标准的测试装置。利用该标准测试系统，对Tl-2212高温超导薄膜带材的微波表面电阻及其随功率变化进行了实验测试。该测试实验在南开大学完成。具体测试工作如下： 被测样品 测试样品为南开大学制备的2英寸高温超导薄膜。 测量原理 利用蓝宝石介质谐振器，测量其TE012、TE021和TE011模式下的谐振频率和品质因数。利用本标准中的公式可以计算出超导体表面电阻和最大表面磁通密度。改变输入功率，即可测得微波频率下超导体表面电阻随功率的变化曲线。 测量装置 图1是微波测试所需的系统示意框图。此系统由网络分析仪（测试传输特性）、测试腔体和用来测试温度的温度计组成。 由一个合适的微波源，例如一个频综扫频源产生一定的入射功率，输入到固定在测试装置内的介质谐振器中。网络分析仪的屏幕上可显示谐振器的传输特性。选用矢量网络分析仪来测试超导薄膜的Rs。因为矢量网络分析仪动态范围宽，比标量网络分析仪具有更好的测试精确度。 图1 使用制冷机测试Rs的装置图 图2是Rs随输入功率变化关系测试装置图。测试中使用了一个行波管（TWT）微波功率放大器，其最大输出功率在40 dBm左右。测试时，输入到介质谐振器中的最大功率为37 dBm。因为测量用的矢量网络分析仪最大输入功率为 0 dBm，所以必须采用衰减器，避免网络分析仪直接接入高强度的微波信号。同时，在测试装置两端加入环形器和定向耦合器，保证谐振器的反射信号不会影响前一级的功率放大器。 在微波信号入射到介质谐振器之前，使用一个功率计（如图2中虚线所示）测量入射信号的功率电平值。通过调节功率放大器的放大倍数，改变谐振器的入射波功率，并用功率计进行实时扫描测量。 图2 Rs随输入功率变化关系测试装置图 微波频率下超导体表面电阻随功率的变化测试步骤 a)按照图2的框图连接好测试系统。固定两个半刚性电缆耦合环与蓝宝石介质柱的相对位置，保证高微波功率能够输入到介质谐振器中。将样品腔体抽真空并冷却至临界温度以下。 b)在f0的设计频率值附近，找到介质谐振器的TE011模谐振峰。 c) 减小屏幕上的扫频宽度，直到仅显示TE011模谐振峰。 d) 测量f0及半功率点带宽Δf。计算TE011谐振模式的有载品质因数QL。 e) 在谐振频率下，测试谐振器两端的反射系数，从有载品质因数QL得出无载品质因数Qu。测得的TE011模式的f0和QU记为f011和QU011。 f) 利用下式计算TE011模式的表面电阻Rs(f011)。 其中A011和B011是TE011模式的几何参数。 g) 通过调节功率放大器的放大倍数，改变谐振器的入射波功率，并用功率计进行实时扫描测量。在每个入射功率下，重复步骤c)到f)，测量不同入射功率下的超导材料微波表面电阻值。 测试结果与分析 对生长在铝酸镧衬底上的Tl-2212超导薄膜进行微波表面电阻测量，表1给出了利用直径11.8 mm，高度6.74 mm的蓝宝石介质谐振器的多次测量结果。测量的谐振器中心频率均为10.6 GHz，蓝宝石柱的a-b平面相对介电常数为9.28，10.6 GHz下蓝宝石柱的损耗因子为10-6，输入功率Pin为0 dBm。由于每次测量的温度会有些差别，因此无载品质因数Qu有所不同（如表1所示）。 表1 超导薄膜微波表面电阻测量报告 测量次数 1 2 3 4 5 6 7 8 9 无载品质因数Qu 106890 104840 108290 107110 105840 104 780 104740 108890 109600 表面电阻Rs(mΩ) 0.509 0.532 0.493 0.506 0.520 0.532 0.533 0.486 0.478 图3给出了表面电阻Rs随超导材料表面最大磁通密度变化关系曲线。 图3 表面电