第六章 纳米材料检测跟表征技术.pptVIP

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  • 2018-09-17 发布于湖北
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第六章 纳米材料检测跟表征技术

成分分析 形貌分析 粒度分析 结构分析 表面界面分析   1. 纳米材料的粒度分析?? ? 1.1 粒度分析的概念??   1. 纳米材料的粒度分析?? ? 1.2. 粒度分析的种类和适用范围 筛分法、显微镜法、沉降法 激光衍射法、激光散射法、光子相干光谱法、电子显微镜图像分析法、基于布朗运动的粒度测量法和质谱法 1.2.1 显微镜法? 光学显微镜 0.8-150μm 电子显微镜 小于0.8μm ,1nm-5μm范围内的颗粒 图像分析技术因其测量的随机性、统计性和直观性被公认为是测量结果与实际粒度分布吻合最好的测试技术。 优点:直接观察颗粒形状,可以直接观察颗粒是否团聚。 缺点:取样代表性差,实验重复性差,测量速度慢。 对于纳米材料体系的粒度分析,首先要分清是对颗粒的一次粒度还是对二次粒度进行分析。 一次粒度的分析主要采用电镜的直观观测,根据需要和样品的粒度范围,可依次采用扫描电镜(SEM)、透射电镜(TEM)、扫描隧道电镜(STM)、原子力显微镜(AFM)观测,直观得到单个颗粒的原始粒径及形貌。 由于电镜法是对局部区域的观测,所以,在进行粒度分布分析时,需要多幅照片的观测,通过软件分析得到统计的粒度分布。电镜法得到的一次粒度分析结果一般很难代表实际样品颗粒的分布状态。 纳米材料颗粒体系二次粒度统计分析方法,按原理分较先进的三种典型方法是:高速离心沉降法、激

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