超大规模集成电路测试：数字、存储器和混合信号.pdfVIP

[General Informa tion] 书名=超大规模集 成电路测试：数字 、存储器和混合信 号系统 作者=（美）MI CHAEL L. BUSHNELL VISHWA NI d.AGR AWAL著 蒋 安平 冯建华 王新安译 页数=511 SS号=1145 1082 出版日期=200 5年08月 出版社=电子工业 出版社 尺寸=26cm 原书定价=58. 00 主题词=超大规模 集成电路(学科: 测试技术)超大 规模集成电路 测 试技术 参考文献格式=（ 美）Michae l L.Bush nell，（美） Vishwani D.Agraw al著；蒋安平， 冯建华，王新安译 .超大规模集成电 路测试 数字、 存储器和混合信号 系统.北京市：电 子工业出版社,2 005.07. 内容提要=国外电 子与通信教材系列 :本书系统介绍了 VLSI测试包括 数字、存储器和混 合信号三类电路测 试和可测试性设计 。内容包括测试基 本概念、测试设备 、测试经济学和故 障模型、测试方法 等。 封面 书名 版权 前言 目录 第一部分 测试 概论 第1章 引言 1.1 测试哲 学 1.2 测试的 作用 1.3 数字和 模拟VLSI测试 1.4 VLS I技术的发展趋势 对测试的影响 1.5 本书范 围 1.6 习题 第2章 VLSI测试过 程和测试设备 2. 1 如何测试芯 片 2.1.1 测 试类型 2. 2 自动测试设 备 2.2.1 A dvantest Model T 6682测试仪 2.2.2 L TX Fusio n ATE 2.2.3 多 点测试 2. 3 电气参数测 试 2. 4 小结 2. 5 习题 第3章 测试经济学和产 品质量 3. 1 测试经济学 3.1.1 成 本定义 3.1.2 生 产 3.1.3 成 本利润分析 3.1.4 可 测性设计的经济学 3.1.5 十 倍法则 3.2 良率 3.3 测量品 质的缺陷等级 3.3.1 测 试数据分析 3.3.2 缺 陷级别评估 3.4 小结 3.5 习题 第4章 故障模型 4. 1 缺陷、错误 和故障