直流GIL绝缘子表面附着金属颗粒局部放电发展过程及严重-高压电器.PDF

第54卷 第5期 0009-0016 Vol.54，No.5 0009-0016 2018年5月16日 HighVoltageApparatus May16，2018 DOI:10.13296/j.1001-1609.hva.2018.05.002 直流GIL绝缘子表面附着金属颗粒局部放电发展 过程及严重程度评估 李建波， 高文胜， 刘卫东 （清华大学电机系电力系统及发电设备控制和仿真国家重点实验室，北京 100084） 摘要：直流气体绝缘线路（gasinsulatedline，GIL）绝缘子表面附着金属颗粒会显著降低绝缘子表面的闪络电 压，是GIL设备内一种常见的故障。为研究直流GIL绝缘子表面附着金属颗粒所引发局部放电的发展过程 并进行严重程度判断，建立了一套220kVGIL设备局部放电测试平台，在逐步升压时利用紫外观测仪观察了 绝缘子表面局部放电的